Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT (1)

Q: Kuhu asetatakse objekt TEMs?

Vastus leiad õppematerjalist: Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT

Q: Kui paks võib maksimaalselt olla objekt TEMs?

Vastus leiad õppematerjalist: Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT

Q: Kui paks võib olla TEM objekt?

Vastus leiad õppematerjalist: Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT

Q: Kui suur vaakum on elektronmikroskoobi kolonnis?

Vastus leiad õppematerjalist: Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT

Q: Kuidas koondatakse ja hajutatakse elektronkiirt?

Vastus leiad õppematerjalist: Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT

Q: Kuidas määratakse suurendust TEMs?

Vastus leiad õppematerjalist: Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT

Q: Kuidas saab märga objekti uurida elektronmikroskoobis?

Vastus leiad õppematerjalist: Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT

Q: Kuidas tekitatakse elektronmikroskoobis elektronkiir?

Vastus leiad õppematerjalist: Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT

Q: Mida kujutab endast täheühend TEMSTEMEEL?

Vastus leiad õppematerjalist: Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT

Q: Mida nimetatakse elektronkahuriks?

Vastus leiad õppematerjalist: Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT

Materjaliteadus - Materjalide uurimismeetodid

5 VÄGA HEA

Esitatud küsimused

Kuhu asetatakse objekt TEMs?
Kui paks võib maksimaalselt olla objekt TEMs?
Kui paks võib olla TEM objekt?
Kui suur vaakum on elektronmikroskoobi kolonnis?
Kuidas koondatakse ja hajutatakse elektronkiirt?
Kuidas määratakse suurendust TEMs?
Kuidas saab märga objekti uurida elektronmikroskoobis?
Kuidas tekitatakse elektronmikroskoobis elektronkiir?
Mida kujutab endast täheühend TEMSTEMEEL?
Mida nimetatakse elektronkahuriks?
Mida nimetatakse katoodiks elektronmikroskoobis?
Miks ei saa elektronmikroskoobiga vett sisaldavaid aineid uurida?
Miks peab elektronmikroskoobi sisemuses olema vaakum?
Milline on TEM objekti paksus?
Milline on TEMi lahutusvõime?
Millised erinevused on SEM ja TEM kolonni ehituses?
Millised nõuded esitatakse TEM objektile?
Millised on TEM lähedased tehnikad?
Millised on TEM piirangud?
Millised on TEM rakendused?
Millises vahemikus onTEM kiirendav pinge?
Mis on elektronkahur?
Mis on massi paksuse kontrast TEMs?
Mis vahe on suurenduse määramisel SEM ja TEM meetoditel?
Missugused peavad olema TEM objektid?
Mis on difraktsioonikontrast TEMs?
Mida nimetatakse Milleri indeksiteks?
Millise valemiga kirjeldatakse elektronide difraktsiooni?
Mis on elementaarrakk?
Mis on kristalne aine?
Mis on polükristalne materjal?
Mis vahe on mono ja polükristalli difraktsioonipildil?
Kuidas toimub elektronide difraktsioon kristalli tasanditelt?
Kuhu asetatakse objekt SEM kolonnis?
Kui suur on SEM suurendus?
Kui sügav vaakum on skaneeriva elektronmikroskoobi sees?
Kuidas määratakse suurendust SEMs?
Kuidas saadakse SEMs kujutis?
Kuidas detekteeritakse sekundaarseid elektrone?
Kuidas töötab elektronide detektor SEMs?
Kuidas töötab sekundaarsete elektronide detektor SEMs?
Kus kasutatakse SEM?
Mida ei saa SEMs uurida?
Milline on SEM lahutusvõime?
Millised nõudmised esitatakse SEM proovidele?
Millised on SEM kasutusalad?
Millised on SEM lähedased tehnikad?
Millised on SEM objektid?
Millised on SEM piirangud?
Millist objektist väljuvat kiirgust kasutatakse SEMs analüütilise signaalina?
Mis on kondensorläätsede ülesanne SEMs?
Mis on SEM objektideks?
Mis ülesanne on elektronide detektoril?
Missugused erinevused on SEM ja TEM kolonnide ehitustes?
Kuidas määratakse keemilise elemendi kontsentratsiooni EDS meetodil?
Kuidas tekib EDS röntgenspektris foon?
Kuidas tekib energiadispersiivse röntgenspektri foon?
Kuidas töötab röntgenkiirte detektor EDS analüsaatoris?
Mida analüüsitakse lainepikkusdispersioon spektromeetriga?
Mida nimetatakse K ja L seeriaks röntgenspektris?
Mida nimetatakse karakteristlikuks kiirguseks?
Mida nimetatakse kontiinumiks?
Mida tähendavad K ja L seeria jooned röntgenspektris?
Mida uuritakse energiadispersioonanalüsaatoriga?
Milles seisneb EDS ja LDS analüüsi erinevus?
Millest sõltub kvantitatiivse informatsiooni esitamine röntgenmikroanalüüsil?
Milline on elemendi avastamise piir EDS analüüsil?
Milline on röntgenmikroanalüüsi täpsus?
Millised on röntgenmikroanalüüsil kvalitatiivse info esitamise võimalused?
Mida nimetatakse röntgenkiirguseks?
Mida nimetatakse võrekonstandiks?
Mis on difraktogramm?
Mida uuritakse difraktogrammide abil?
Mis on ideaalne kristall?
Mis on röntgenkiired?
Mis vahe on karakteristlikul ja pideval röntgenkiirgusel?
Mis vahe on reaalsetel ja ideaalsetel kristallidel?
Mille järgi määratakse kristalli suurust difraktomeetrias?
Kuidas määratakse aatomite paiknemist difraktsioonanalüüsil?
Kuidas määratakse kristalli ideaalsust difraktsioonanalüüsil?
Kuidas määratakse kristalli orientatsiooni difraktsioonanalüüsil?
Kuidas määratakse kristallide geomeetriat difraktsioonanalüüsil?
Kuidas saab määrata pinge suurust difraktomeetrias?
Kuidas tekitatakse röntgekiirgust röntgenitorus?
Kuidas uuritakse kristalli geomeetriat difraktomeetrias?
Mida nimetatakse kristallvõre konstandiksvõreparameetriks?
Millise valemiga kirjeldatakse röntgenkiirte difraktsiooni?
Kui suur on AFM teraviku ots?
Mis on konstantse voolu reziim?
Mis on konstantse kõrguse reziim?
Mis on piesoelektriline efekt?
Mida nimetatakse aatomlahutuseks?
Millest valmistatakse AFM teravikud?
Milline on SPM vertikaalne lahutusvõime?
Milline on teravikmikroskoobi vertikaalne lahutusvõime?
Millised on nõuded STM objektidele?
Mis on aatomlahutus?
Mis on teravikmikroskoop?
Mis on tunnelefekt?

KORDAMISKÜSIMUSED 2KT
Transmissioonelektronmikroskoopia (TEM)

Kas märga objekti saab uurida elektronmikroskoobis?
SEM-s (ega ka TEM-s) ei saa otseselt vett sisaldavaid objekte uurida, sest mikroskoobi sisemuses olevas kõrgvaakumis aurustub vesi ning objekti struktuur moondub.

Kas projektsioonläätsed TEMs suurendavad objekti kujutist?
Jah, kujutiste suurendamine toimub objektiiv – ja projektsioonläätsede abil. TEM-s võib olla kuni 5 projektsioonläätse. Igaüks neist suurendab eelmise läätse poolt tekitatud kujutist. Analoogselt valgusmikroskoopiaga võrdub suurendus süsteemis olevate objektiiv- ja projektsioonläätsede suurenduste korrutisega.

Kirjeldage TEM kolonni ehitust.
Koosneb elektronkahurist ning erinevatest läätsedest, mis töötavad vaakumis .
TEM kolonnis on kõrgvaakum 10-5torri.
• Elektronkiir tekitatakse elektronkahuris.
• Termoemissioonkatood V-kujuline 0,1mm paksune W - traat.
• Läätsed - elektromagnetilised.
• Kondensor - kontrollib elektronkiire läbimõõtu ja langemisnurka objektile .
• Kujutise suurendamine toimub objektiiv- ja projektsioonläätsede abil.
• Kujutis tekib fluorestseeruvale ekraanile .

Kuhu asetatakse objekt TEMs?
Objektikamber asub otse kondensorläätsede all. Objekt on üliväike, ca 100 nm paks, asetatakse 3 mm läbimõõduga võrgu peale ja asub objektiivi pooluskingade vahel. Seda saab GONIOMEETRI abil liigutada igas suunas ja kallutada.

Kui paks võib maksimaalselt olla objekt TEMs?
Elektronid suudavad tungida labi ainest paksusega umbes 100 nm.

Kui paks võib olla TEM objekt?
Objektide paksus umbes 5 µm, dia 3 mm.  Mahulised objektid lõigatakse õhukesteks lõikudeks ja seejärel vähendatakse paksust veelgi elektrokeemilise voi ioonsöövitamisega. Elektronid suudavad tungida läbi ainest paksusega umbes 100 nm.

Kui suur vaakum on elektronmikroskoobi kolonnis?
Kaheastmeline – eelvaakum (10-2 torri) tekitatakse rotatsioonpumbaga. Kõrgvaakum tekitatakse õlidifusioonpumbaga (10-5torri).

Kuidas koondatakse ja hajutatakse elektronkiirt?
Elektronmagnetilised läätsed fokusseerivad paralleelsed kiired mingile kindlale punktile optilisel teljel . Seega vastavalt vajadusel nad kas koondavad või hoopis hajutavad elektonmikroskoobi kolonni läbivat elektronkiirt.

Kuidas määratakse suurendust TEMs?
Analoogselt valgusmikroskoopiaga võrdub suurendus süsteemis olevate objektiiv- ja projektsioonläätsede suurenduste korrutisega.

Kuidas saab märga objekti uurida elektronmikroskoobis?
Mittejuhtivaid materjale peab katma õhukese kulla või selle sulamite kihiga vaakumis.

Kuidas tekitatakse elektronmikroskoobis elektronkiir?
Elektronkiir tekitatakse elektronkahuris. Volframtraadi kuumutamisel elektrivooluga temperatuurini 2700K eralduvad selle pinnast termoemissiooni tõttu vabad elektronid, mis hajuvad ruumis kõikides suundades. Elektronid formeeritakse elektronkiireks katoodi ja anoodi elektriväljade abiga.

Mida kujutab endast täheühend TEM+STEM+EEL?
Transmissioonelektronmikroskoop + skaneeriv transmissioonelektronmikroskoop + elektronide energiakao spektomeeter

Mida nimetatakse elektronkahuriks?
Elektronkahur on üks TEM-i osa, kus tekitatakse elektronkiir

Mida nimetatakse katoodiks elektronmikroskoobis?
Katoodiks on V-kujuline 0,1mm paksune W - traat. Elektronid formeeritakse elektronkiireks katoodi ja anoodi elektriväljade abiga.

Miks ei saa elektronmikroskoobiga vett sisaldavaid aineid uurida?
SEM-s (ega ka TEM-s) ei saa otseselt vet sisaldavaid objekte uurida, sest mikroskoobi sisemuses olevas kõrgvaakumis aurustub vesi ning objekti struktuur moondub.

Miks peab elektronmikroskoobi sisemuses olema vaakum?
Suurendamaks elektronide poolt läbitava vaba tee pikkust on elektronmikoskoopides vaakum Seda on vaja kahel põhjusel: esitaks aitab see ära hoida kaarlaengu katoodi ja anoodi vahel ning teiseks vähendab see võimalust, et elektronid võiksid kokku põrgata gaasi aatomitega (seda kokkupõrgete sagedust kirjeldabki mõiste elektronide vaba tee pikkus).

Milline on TEM objekti paksus?

Paksus umbes 5 μm, dia 3 mm.
Mahulised objektid lõigatakse õhukesteks lõikudeks ja seejärel vähendatakse paksust veelgi elektrokeemilise või ioonsöövitamisega. Elektronid suudavad tungida läbi ainest paksusega umbes 100 nm.Pulbrilised materjalid dispergeeritakse süsinikust tugikile pinnal.

Milline on TEMi lahutusvõime?
0,12 nm

Millised erinevused on SEM ja TEM kolonni ehituses?
TEM kolonnis on kõrgvaakum 10-5 torri.TEM - Kujutise suurendamine toimub objektiiv ja projektsioonläätsede abil. Kujutis tekib fluorestseeruvale ekraanile. SEM : Kujutis tekitatakse sünkroonselt monitoril. SEM kolonn on lühem. ( kindlasti on mingi erinevus veel aga ei suutnud välja lugeda )

Millised nõuded esitatakse TEM objektile?

Objekti paksus peab olema u. 100 nm
Objektid on tahked ained (metallid, keraamika , mineraalid, polümeerid, bioloogilised materjalid jt.).
Paksus umbes 5 μm, dia 3 mm.
Mahulised objektid lõigatakse õhukesteks lõikudeks ja seejärel vähendatakse paksust veelgi elektrokeemilise või ioonsöövitamisega. Elektronid suudavad tungida läbi ainest paksusega umbes 100 nm.Pulbrilised materjalid dispergeeritakse süsinikust tugikile pinnal.

Millised on TEM lähedased tehnikad ?

Röntgendifraktsiooon: mahulise objekti kristallograafiline informatsioon.
Optiline metallograafia : kiirem meetod väiksemate suuurenduste juures (kuni1000 x), mis annab ülevaate mikrostruktuurist. Ei anna keemilist informatsiooni.
SEM: kiirem meetod väiksemate suurenduste juures (kuni 20 000), mahuliste objektide uurimine , lahutusvõime kuni 50 nm mahulistel objektidel, kvalitatiivne keemiline informatsioon, piiratud kristalloraafiline informatsioon elektronide kanaleerumise abil.
EPMA: kiirem, täpsem (1% rel.) kvantitatiivne elementanalüüs alates B(5), halvem ruumlahutusvõime (18m3), ei anna kristallograafilist informatsiooni.

Millised on TEM piirangud?

Prepareerimine võib kesta nädalaid.
Kujutise lahutusvõime 0,12 nm.
Minimaalne analüüsitav ala 30 nm.
Elemendi avastamise piir 0,5 kuni 1% (massi).
Kvantitatiivse analüüsi täpsus 5 kuni 15 % (suhteline).
Elementide kvantitatiivne analüüs EDS alates Na (11); WDS alates B (5).
Kristallstruktuuri kindlaksmääramine on piiratud andmebaasi suurusega (umbes 120 000 faasi ja ühendit).
Kahe kooseksisteeriva faasi eraldamine on võimalik ainult siis, kui mõlema faasi
kristallstruktuur on teada või saab neid määrata.
Täielikuks ruumipunktide analüüsimiseks tuleb kasutada spetsiaalset mikrodifraktsioonimeetodit.

Millised on TEM rakendused ?

Materjalide iseloomustamine ja uurimine väga suurte suurenduste abil.
Anorgaaniliste faaside , sadestite, ja saasteainete koostise ja kristallstruktuuri kindlaksmääramine.

Millises vahemikus onTEM kiirendav pinge?
Kuni 3 MkV

Mis on elektronkahur?
Elektronkiir tekitatakse elektronkahuris. Elektronkahur- katood . Katood - on V kujuliselt painutatud 0,1 mm W traat.

Mis on massi paksuse kontrast TEMs?
Objekti alad, mis on suurema tihedusega või paksemad ,kallutavad elektrone rohkem kui nurga α võrra kõrvale ja ei satu ekraanile - tume ala ekraanil . Kasutatakse peamiselt mittekristalliliste objektide uurimisel .

Mis vahe on suurenduse määramisel SEM ja TEM meetoditel ?
SEM : lineaarmõõtude suhe ekraanil nähtaval kujutisel ja objektil
TEM : üksikläätsede suurenduste korrutis.

Missugused peavad olema TEM objektid?

Objekti paksus peab olema u. 100 nm
Objektid on tahked ained (metallid, keraamika, mineraalid, polümeerid, bioloogilised materjalid jt.).
Paksus umbes 5 μm, dia 3 mm.
Mahulised objektid lõigatakse õhukesteks lõikudeks ja seejärel vähendatakse paksust veelgi elektrokeemilise või ioonsöövitamisega. Elektronid suudavad tungida läbi ainest paksusega umbes 100 nm.Pulbrilised materjalid dispergeeritakse süsinikust tugikile pinnal.

Mis on difraktsioonikontrast TEMs?
Kui objekt on kristalliline, siis lisandub uus efekt. Braggi valemi järgi kaldub osa elektrone objekti kristallvõrelt suurema kui nurga α võrra kõrvale ja ekraanile tekib samuti tume ala, kuid hoopis teisel, objekti kristallstruktuuriga seotud põhjusel.
Difraktsioonikontrast teeb nähtavaks kristalse võrega objekti struktuuridefektid dislokatsioonid , sadestised, kasvulaine defektid, faaside piirpinnad, tera äärjooned jt.

Mida nimetatakse Milleri indeksiteks?
Võretasandite identifitseerimiseks kasutatakse kolmest numbrist koosnevat tähist, (hkl) – Milleri indekseid, kus h (x-teljel), k (y-teljel), l (z-teljel) on täisarvud või null.
Milleri Indeksid kujutavad endast mingi telje (x, y, z) sihis kauguse PÖÖRDVÄÄRTUST, mille juures tahk lõikab vastavat telge elementaarrakus.

Millise valemiga kirjeldatakse elektronide difraktsiooni?

Mis on elementaarrakk?
Kristalses aines paiknevad aatomid kindla seaduspärasuse järgi, moodustades kolmemõõtmelise korduva struktuuri. Kõige väiksemat struktuuriühikut selles nimetatakse aine elementaarrakuks. Kõige lihtsam elementaarrakk on kuubi kujuline ja kõige lihtsam kristallvõre on kuubiline võre.

Mis on kristalne aine?
Kristalses aines paiknevad aatomid kindla seaduspärasuse järgi, moodustades kolmemõõtmelise korduva struktuuri.

Mis on polükristalne materjal?
Polükristall, aine juhuslikult orienteeritud kristalliitide kogum.

Mis vahe on mono ja polükristalli difraktsioonipildil?
Monokristalli difraktsioonipildis on kõik difraktsioonipunktid selgelt eristatavad. Kui monokristalli asemel võtta sama aine juhuslikult orienteeritud kristalliitide kogum ehk polükristall, siis tekib kõikidest monokristallidest summaarselt difrageerunud kiirtest hele rõngas kauguse R keskpunktist. Ekraanile ilmub kontsentrilistest heledatest ja tumedatest rõngastest koosneb difraktsioonipilt.

Kuidas toimub elektronide difraktsioon kristalli tasanditelt?
Kristalse aine aatomitasandid toimivad elektroni või röntgenkvandi sissetungimisel ainesse selektiivsete peegeldajatena ja kallutavad elektronide voogu või röntgenikiirgust esialgsest sihist kõrvale. Kiirguse peegeldumisel paralleelsetelt kõrvutiasuvatelt aatomtasanditelt toimub interferentsi tagajärjel kiirguse võimendumine kindlatel juhtudel, mida Bragg kirjeldas valemiga. Selle küsimuse vastuses ma kindel ei ole.
Skaneeriv elektronmikroskoopia (SEM)

Kirjeldage SEM kolonni ehitust.

Elektronkiir tekitatakse elektronkahuris.
Termoemissioonkatood V-kujuline 0,1mm paksune W - traat.
Läätsed elektromagnetilised.

Kondensor - kontrollib elektronkiire läbimõõtu ja kiire intensiivsust.
Skaneerimispoolide abil liigutatakse objektil elektronkiirt.
Objektist väljunud elektronid registreeritakse detektoriga.
Kujutis tekitatakse sünkroonselt monitoril.

Kuhu asetatakse objekt SEM kolonnis?
Objekt asetatakse kolonni all- osasse , alumiiniumist kettale.

Kui suur on SEM suurendus?
Pinnadetailide kujutise suurendamine 10X kuni ~500 000 X.

Kui sügav vaakum on skaneeriva elektronmikroskoobi sees?
SEM kolonnis on vaakum on 10 -5 torri

Kuidas määratakse suurendust SEMs ?
Lineaarmõõtude suhtest ekraanil nähtaval kujutisel ja objektil

Kuidas saadakse SEMs kujutis?

Saadakse punkt-punktilt skaneerimise teel.
Seletatakse pikseli mõiste abil – piksel on kujutise vähim element suurusega 0,1 mm, omab kindlat intensiivsust, ei oma sisemist struktuuri.
Igale pikselile ekraanil peab vastama piksel objektil.
Mikroskoobi lahutusvõime peab optimaalses režiimis olema võrdne objekti pikseli suurusega.
Sügavusteravus on suurusjärk suurem kui OM sama suurenduse juures – ruumiline kujutis.
Ultimatiivne lahutusvõime on vähim elektronkiire läbimõõt, mille korral saadakse veel adekvaatne signaal .

Kuidas detekteeritakse sekundaarseid elektrone?

Kõige sagedamini kasutatav signaal.
Stsintillaator fotoelektronkordistiga Everhart-Thornley elektronide detektor .
Sekundaarelektronid tekitavad valgusesähvatuse stsintilatsioonmaterjalis, see juhitakse valgusjuhi abil fotoelektronkordistisse, mis muudab footonid voolu- ja pingeimpulssideks, mida võimendatakse ning sellega moduleeritakse monitori heledust – saadakse objektist pilt monitori ekraanile.

Sekundaarelektrone tuleb tõmmata detektorile positiivse laenguga, mis antakse selle ees asetsevale võrele.
Sekundaarelektronide energia on väike, arv on suur.
Signaal koosneb sekundaarelektronidest ja peegeldunud elektronidest.

Kuidas töötab elektronide detektor SEMs?

Peegeldunud elektronide energia on suur, hulk väike.
Detektori võrele antakse negatiivne laeng, et kõrvale juhtida sekundaarelektrone.
Signaal koosneb ainult peegeldunud elektronidest.

Detektorid kahte tüüpi:

Robinsoni detektor (a)– stsintillatsiooni efektil töötav. Kiiretoimeline, TV laotus.
Pooljuhtdetektor (b) – elektron -auk paaride rekombinatsioonil tekkinud laengukandjate voolu mõõtmine pingestatud pooljuhis. Aeglane töökiirus, ei saa kasutada TV laotust.

Kuidas tekitatakse elektronmikroskoobis elektronkiir?
Elektronkiir tekitatakse elektronkahuris.

Kuidas töötab sekundaarsete elektronide detektor SEMs?
Kõige sagedamini kasutatav signaal. Sekundaarelektronid tekitavad valgusesähvatuse stsintilatsioonmaterjalis, see juhitakse valgusjuhi abil fotoelektronkordistisse, mis muudab footonid voolu- ja pingeimpulssideks, mida võimendatakse ning sellega moduleeritakse monitori heledust – saadakse objektist pilt monitori ekraanile. Sekundaarelektrone tuleb tõmmata detektorile positiivse laenguga, mis antakse selle ees asetsevale võrele. Sekundaarelektronide energia on väike, arv on suur. Signaal koosneb sekundaarelektronidest ja peegeldunud elektronidest.

Kus kasutatakse SEM?
• Pinnadetailide kujutise suurendamine 10X kuni ~500 000 x.
• Lahutusvõime kuni 3-100 nm sõltuvalt objekti tihedusest ja elektrijuhtivusest.
• Peegeldunud elektronide režiimis – söövitamata objekti terade piirjoonte uurimine,
doomenstruktuuri avastamine ferromagneetikutes, kristallograafilise orientatsiooni
hindamine 2 4m kuni 104m suurustel kristallidel, erineva aatominumbriga teise faasi
eraldamine söövitamata pinnal.
• Sobiv seade pooljuhttööstuses materjalikontrolliks.

Mida ei saa SEMs uurida?
SEM-s ei saa otseselt vett sisaldavaid objekte uurida, sest mikroskoobi sisemuses olevas kõrgvaakumis aurustub vesi ning objekti struktuur moondub.

Mida nimetatakse elektronkahuriks?
SEM-i kolonni otsas olev seade ehk katood, mis saadab välja/tekitab elektronkiire. Katoodiks on V kujuliselt painutatud 0,1 mm W traat. Volframtraadi kuumutamisel elektrivooluga temperatuurini 2700K eralduvad selle pinnast termoemissiooni tõttu vabad elektronid, mis hajuvad ruumis kõikides suundades. Elektronid formeeritakse elektronkiireks katoodi ja anoodi elektriväljade abiga.

Mida nimetatakse katoodiks elektronmikroskoobis?
Katoodiks on V kujuliselt painutatud 0,1 mm W traat.??

Milline on SEM lahutusvõime?
Lahutusvõime kuni 3-100 nm sõltuvalt objekti tihedusest ja elektrijuhtivusest.

Millised nõudmised esitatakse SEM proovidele?
OBJEKTID

Mistahes tahke aine või vedelik jääkaururõhuga (10-3torri).
Suurus sõltub konkreetsest mikroskoobist, tavaliselt 15-20mm, vaadeldav ala 4-8 mm.

PREPAREERIMINE

Elektrit juhtivatele materjalidele on kasutatav standardne metallograafiline prepareerimine.
Mittejuhtivaid materjale peab katma õhukese kulla või selle sulamite kihiga vaakumis.
Objekt peab mikroskoobis vaatlemiseks olema elektriliselt maandatud.
Pulbrilisi materjale dispergeeritakse juhtivale alusele.
Objektid ei tohi sisaldada kõrge aururõhuga komponente nagu VESI, ORGAANILISED LAHUSTAJAD, ÕLI.

Millised on SEM kasutusalad?
KASUTUSALA

Pinnadetailide kujutise suurendamine 10X kuni ~500 000 x.
Lahutusvõime kuni 3-100 nm sõltuvalt objekti tihedusest ja elektrijuhtivusest.
Peegeldunud elektronide režiimis – söövitamata objekti terade piirjoonte uurimine, doomenstruktuuri avastamine ferromagneetikutes, kristallograafilise orientatsiooni hindamine 2 4m kuni 104m suurustel kristallidel, erineva aatominumbriga teise faasi eraldamine söövitamata pinnal.
Sobiv seade pooljuhttööstuses materjalikontrolliks

Millised on SEM lähedased tehnikad?
Röntgendifraktsiooon, Valgusmikroskoopia, STEM (skaneeriv transmissionelektronmikroskoopia), TEM (transmissioonelektronmikroskoopia)

Millised on SEM objektid?
Mistahes tahke aine või vedelik jääkaururõhuga (10-3 torri).
Suurus sõltub konkreetsest mikroskoobist, tavaliselt 15-20mm, vaadeldav ala 4-8 mm.

Millised on SEM piirangud?

Metallograafiliselt prepareeritud tasapinnaliste objektide pinna kujutis suurendustel 300-400 x on informatsioonivaesem kui valgusmikroskoobis.
Lahutusvõime on väiksem kui TEM ja AEM.

Millist objektist väljuvat kiirgust kasutatakse SEMs analüütilise signaalina?
Röntgenkiirgust

Mis on elektronkahur?
Seade, mis tekitab ja saadab välja elektronkiire

Mis on kondensorläätsede ülesanne SEMs?
Kontrollib elektronkiire läbimõõtu ja kiire intensiivsust.

Mis on SEM objektideks?
Mistahes tahke aine või vedelik jääkaururõhuga 10-3 torri.

Mis vahe on suurenduse määramisel SEM ja TEM meetoditel?
SEMis muudetakse suurust elektrivoolu suuruse muutmisega läätse poolis, aga TEMis elektrivoolu suuruse muutmisega projektsioonläätse poolis.

Mis ülesanne on elektronide detektoril?
Saada elektronkujutis.

Missugused erinevused on SEM ja TEM kolonnide ehitustes?
SEM kolonnis tekitatakse kujutis sünkroonselt monitoril.
TEM kolonnis tekib kujutis fluorestseeruvale ekraanile. Kujutise suurendamine toimub objektiiv- ja projektsioonläätsede abil.
Röntgenmikroanalüüs (materjali võib kasutada)

Kirjeldage energiadispersioon spektromeetri tööpõhimõtet.
Enegiadispersioonspektromeetria on analüütiline tehnika, mida kasutatakse uuritava aine keemiliseks iseloomustamiseks elementide kaupa. Primaarsete elektronidega aine pommitamisel väljub sellest kindla energiaga röntgenkiirgus, mis on üheselt seotud aine koostisse kuuluvate keemiliste elementidega.

Kirjeldage röntgenkiirguse tekkemehhanismi.
Skäneerivas elektronmikroskoobis on aine pommitamisel elektronidega üheks tulemuseks röntgenkiirguse tekkimine ja väljumine ainest. Tekkinud röntgenkvantide energia on üheselt seotud aatomiga, millest see väljus. See on röntgenmikroanalüüsi aluseks.

Kuidas määratakse keemilise elemendi kontsentratsiooni EDS meetodil?
Ei leidnud vastust

Kuidas tekib EDS röntgenspektris foon?

Iga laenguga osake kiirgab kiirendamisel või pidurdamisel elektromagnetlainet.
On olemas tõenäosus, et ainet ergastav elektron genereerib pidurdudes röntgenkiirguse ilma sisekatte elektroni välja löömata.
Sel juhul võib ainesse tungiv elektron kaotada mistahes suurusega energiahulga kuni kogu tema kineetilise energiani ja ainest väljuv röntgenkiirgus ei ole enam iseloomulik teatud aatomile.
Seda kiirgust nimetatakse pidevaks röntgenkiirguseks.

Kuidas tekib energiadispersiivse röntgenspektri foon?
Peaks olema sama mis eelmine

Kuidas töötab röntgenkiirte detektor EDS analüsaatoris?
EDS-s on röntgenkiirguse detektoriks Li legeeritud Si kristall , mis on töövõimeline ainult madalatel temperatuuridel Li suure difusioonivõime tõttu. Seetõttu on EDS detektori üheks osaks jahuti, milleks võib olla veeldatud lämmastiku (temp. -196° C) anum (eelmistel fotodel ) või toimub jahutamine elektriliselt.
Oma teel objektist detektorini võivad röntgenkiired neelduda ja hajuda detektori aknalt, kristalli metallist kattekihis, Si kristalli mitteaktiivses pinnakihis . Aktiivne mõõteala on 12,5 mm2 pindalaga ja 3mm paksune. Erineva energiaga röntgenkiired tekitavad Si kristallis samaaegselt energiaga proportsionaalseid laenguimpulsse, mida registreeritakse. Seega on võimalik kõiki keemilisi elemente määrata ÜHEAEGSELT.

Mida analüüsitakse lainepikkusdispersioon spektromeetriga?
Lainepikkusdispersioonspektromeetriga määratakse ainest väljuvate ja mõõtekristallis difrageeruvate kindla lainepikkusega röntgenkvantide arvu. Erinevalt EDS-st registreeritakse ainult üht lainepikkust korraga. See tähendab, et uuritav keemiline element peab olema teada, et leida temale vastavale röntgenkiirusele õiget difrageerivat kristalli. Seetõttu kasutatakse meetodit koos EDS-ga mille abil määratakse kõigepealt kvalitatiivselt , milliste keemiliste elementidega on tegemist.

Mida nimetatakse K ja L seeriaks röntgenspektris?

K- kihist väljalöödud elektron asendatakse L-kihi elektroniga, siis tekivad nn. Kα seeriaspektrijooned
vakants täidetakse M-kihi elektroniga, siis saadakse Kβ seeria spektrijooned .
Spektrijoonte asukohad energia teljel on unikaalsed ja iseloomustavad aatomit üheselt.

Mida nimetatakse karakteristlikuks kiirguseks?
Aatomis sisekattest lüüakse välja elektron. Tekib vakants. Aatom ioniseerub. Relaksatsioon toimub vakantsi täitmisega kõrgema energiaga nivoolt. Erinevatel elektronkatetel olevatel elektronidel on erinev potentsiaalne energia. Energiate vahe kiiratakse välja röntgenkvandina, mis on iseloomulik selle aine aatomile - karakteristlik kiirgus.

Mida nimetatakse kontiinumiks?
Kontiinum- pidev hulk/üleminek; polükromaatne kiirgus??? (GOOGLEST!)

Mida tähendavad K ja L seeria jooned röntgenspektris?
K-kihist väljalöödud elektron asendatakse L-kihi elektroniga, siis tekivad nn. Kα seeria spektrijooned. Spektrijoonte asukohad energia teljel on unikaalsed ja iseloomustavad aatomit üheselt.

Mida uuritakse energiadispersioonanalüsaatoriga?
Enegiadispersioonspektromeetria on analüütiline tehnika, mida kasutatakse uuritava aine
keemiliseks iseloomustamiseks elementide kaupa. Primaarsete elektronidega aine pommitamisel väljub sellest kindla energiaga röntgenkiirgus, mis on üheselt seotud aine koostisse kuuluvate keemiliste elementidega. (EDS seade on üheks analüütiliseks instrumendiks skaneerivas elektronmikroskoobis.)

Milles seisneb EDS ja LDS analüüsi erinevus?
Erinevalt EDS-st registreeritakse LDS-ga ainult üht lainepikkust korraga. LDS-ga saab korraga mõõta ainult üht keemilist elementi, EDS võimaldab mõõta üheaegselt kõiki.

Millest sõltub kvantitatiivse informatsiooni esitamine röntgenmikroanalüüsil?
Kvantitatiivse informatsiooni saamisel tuleb kõigepealt selgitada, milline on analüüsitav ruumala. On selge, et see on ala, millest väljunud röntgenkvandid registreeriti loendis . See sõltub, kui sügavale tungib elektronkiir objekti ning kui tugevalt neelduvad röntgenkiired väljumisel ainest. Järelikult faktoreid, mis mõjutavad analüüsitava ala suurust on palju. Nendest tähtsamad on:
- elektronkiire energia;
- röntgenkvantide väljumise ruumala (ergastusruumi) keskmine tihedus;
- röntgenkiirte lainepikkuses;
- röntgenkiirte absorbtsioonikoefitsient;
- elektronkiirte langemisnurk objektile.;
- jne.
Teine raskesti määratav asjaolu on see, et kuigi elektronkiir tungib objekti teatud sügavusse, ei ole väljuvate röntgenvantide jaotus sugugi ühtlane. Tõenäoliselt tuleb pinnakihi lähedalt rohkem kvante kui objekti sügavusest, kus nad osaliselt neelduvad oma teel välja. Analüüsi tulemused ei iseloomusta analüüsitavat ala ühtlaselt.

Milline on elemendi avastamise piir EDS analüüsil?
(ELEMENDI AVASTAMISE PIIR- on elemendi kontsentratsiooni alampiir, mida on võimalik objektis avastada .) EDS analüüsi jaoks 0,1 %.

Milline on röntgenmikroanalüüsi täpsus?
EDS režiimis ± 6%; LDS režiimis ± 2%

Millised on röntgenmikroanalüüsil kvalitatiivse info esitamise võimalused?
Esitamiseks on kolm võimalust:
- keemiliselt homogeense ala ( näit. faas) analüüs;
- terve objekti või selle osa üldine analüüs;
- analüüs objekti ebahomogeensuse avastamiseks.
Difraktsioonanalüüs

Mida nimetatakse röntgenkiirguseks?
Röntgenkiirgus on elektromagnetkiirgus lainepikkuste vahemikus 0,01–10 nm.

Mida nimetatakse võrekonstandiks?
Võrekonstant -(d) iseloomustab võret ja on kaugus kahe naaberpilu keskpunktide vahel.

Mis on difraktogramm?
Väike kristall paigutatakse paralleelsete röntgenikiirte teele ja asetatakse tasapinnaline film teisele poole, kuhu tekib pilt. Viimast nimetataksegi difraktogrammiks.

Mida uuritakse difraktogrammide abil?
Iga aine omab ainult talle iseloomulikku võrekonstandi väärtust ja reflekside intensiivsuste omavahelist suhet, mille saabki antud uuringul difraktogrammil välja lugeda. Difraktogrammi järgi tehakse kindlaks uuritav materjal ja eksist vorm (kas tegemist on amorfse-, kristallilise aine või nende seguga; millised kristallained on uuritavas proovis; on võimalik määrata võre parameetrid a,b,c.)

Mis on ideaalne kristall?
Ideaalsed kristallid esindavad ideaalset korrapära. Kristallid on aga väga harva ideaalsed, ilma defektideta. Nad sisaldavad deformeeritud võre alasid, ja võre kokkuliitumise defekte.

Mis on röntgenkiired?
Röntgenkiired on elektromagnetkiirgus lainepikkusega 10-10 kuni 10-8 m. Neil võivad olla nii laine kui ka osakese omadused.

Mis vahe on karakteristlikul ja pideval röntgenkiirgusel?
Karakteristikul röntgenkiirgusel on energia diskreetsed väärtused erinevad iga elemendi jaoks, samas kui pideva röntgenkiirguse korral on energia pidev. Karakteristiliku allikaks on aatomis elektrokatete vahelised üleminekud ning pideva korral on allikaks elektroni pidurdumine. Pideval röntgenkiirgusel puudub kasutusala, karakteristiliku kasutusalaks on aga mikroalade keemiline analüüs SEM, STEM, SAM.

Mis vahe on reaalsetel ja ideaalsetel kristallidel?
Ideaalsete kristallide korral puuduvad kristallil defektid, kuid selliseid esineb väga harva. Reaalsetel kristallidel aga esinevad tavaliselt mingisugused defektid, nt võre deformatsioonid , dislokatsioonid, kasvu seiskumine, alamterade struktuur, lisandid

Mille järgi määratakse kristalli suurust difraktomeetrias?
Seda määratakse spektrijoone laienemise järgi, kui objektiks on pulber

Kuidas määratakse aatomite paiknemist difraktsioonanalüüsil?
Seda määratakse difrageerunud intensiivsuste analüüsil, kui objektiks on monokristall või
üldise difraktogrammi täpsustamise meetodil, kui objektiks on pulber.

Kuidas määratakse kristalli ideaalsust difraktsioonanalüüsil?
Seda määratakse kas otsesel pildistamisel, kui objektiks on monokristall või joone kuju analüüsil, kui objektiks on pulber

Kuidas määratakse kristalli orientatsiooni difraktsioonanalüüsil?
Seda määratakse monokristalli tagasipeegeldusel - objekt suur monokristall või tekstuuri analüüsil - objekt kompaktpulber

Kuidas määratakse kristallide geomeetriat difraktsioonanalüüsil?

Seda määratakse Liikuva kristall-punkti difraktogrammil – objekt monokristall
Arvutijuhtimisega difraktomeeteriga – objekt monokristall
d-kauguste võrrandite lahendamine – objekt pulber

Kuidas saab määrata pinge suurust difraktomeetrias?
Pinge suurust saab määrata spektrijoone nihkumisel, kui objektiks on kompaktpulber

Kuidas tekitatakse röntgekiirgust röntgenitorus?
Röntgenikiiri saadakse röntgenitoru abil, kus jahutatavat metallplaati (anoodi) pommitatakse katoodilt väljunud ja elektriväljas kiirendatud kõrge energiaga elektronidega (50 kV).

Kuidas uuritakse kristalli geomeetriat difraktomeetrias?
Kõigepealt jaotatakse kristallvõred kuude kategooriasse, mida nimetatakse kristallograafilisteks sümmeetriaklassideks (kuubiline, tetragonaalne jne.). Seejärel leitakse Braggi valemi järgi võreparameeterite/konstantide väärtused, millega saab määrata aines esinevaid ühendeid, kõrvutades mõõtetulemusi juba andmebaaside olevate andmetega . Võreparameetrite muutus sõltuvalt temperatuurist ja/või rõhust annab fundamentaalset termodünaamilist informatsiooni uuritava ühendi kohta.

Mida nimetatakse kristallvõre konstandiks(võreparameetriks)?
Võreparameeter on Braggi valemiga nλ= 2dsinΘ leitav väärtus, millega saab määrata aines esinevaid ühendeid, kõrvutades mõõtetulemusi juba andmebaaside olevate andmetega.

Millise valemiga kirjeldatakse röntgenkiirte difraktsiooni?
Teravmikroskoopia

Kas objekti paksus on oluline STM meetodiga aine uurimisel?
Jah, SEM nõuab objektilt suurt massikontrasti ja lahutusvõimest ei piisa pinna üksikute aatomite eristamiseks

Kui suur on AFM teraviku ots?
Teraviku otsa raadius on alates mõnest nanomeetrist kuni 10-te nanomeetriteni.

Loetlege STM tehnika puudused.

Metallteraviku tipu valmistamise keerukus, selle materjali ja struktuuri mõju mõõtmistulemustele pole täpselt teada,
Töötamine aatomlahutusel ei ole tavapärane protseduur ,
STM ei saa skaneerida väikesi vahemikke suuremate osakeste vahel, tekkiva moonutuse tõttu näivad osakesed suurematena:
STM meetod ei ole tundlik keemilise koostise suhtes.

Mis on konstantse voolu režiim?
Teravikku liigutatakse (skaneeritakse) piki pinda, püüdes säilitada konstantset eelnevalt fikseeritud tunnelvoolu. See saavutatakse terviku tipu asendi pideva muutmisega tagasiside pinge abil. Konstantse voolu meetod on rakendatav materjalide uurimisel, mis on aatomi tasandil ebaühtlased.

Mis on konstantse kõrguse režiim?
Teravikku skaneeritakse suure kiirusega üle pinna enam-vähem konstantsel kaugusel ja pingel Vz ja registreeritakse tekkiv tunnelvool. Konstantse kõrguse režiim võimaldab hulga kiiremat skaneerimist aatomi tasandil siledatel pindadel ja seega pinnaolekute dünaamilist uurimist .

Mis on piesoelektriline efekt?
Kvartsi või baarium titanaadi kristalli vastastahkude kokkusurumisel tekib nende tahkude pinnale vastasmärgiline laeng.

Mida nimetatakse aatomlahutuseks?
Võimet eristada üksikuid aatomeid.

Millest valmistatakse AFM teravikud?
Mikromehhaaniliselt Si või Si3N4.

Milline on SPM vertikaalne lahutusvõime? 0,01nm

Milline on teravikmikroskoobi vertikaalne lahutusvõime?
0,01 nm (sama mis STM, sest STM on teravikmikroskoobi üks meetodeid )

Millised on nõuded STM objektidele?
Saab uurida ainult elektrit juhtivaid objekte.

Mis on aatomlahutus?
Võimet eristada üksikuid aatomeid.

Mis on teravikmikroskoop?
Teravikmikroskoop võimaldab jälgida materjali pinnal üksikute aatomite paiknemist ja uurida füüsikalisi ja keemilisi omadusi, mis sõltuvad pinnal asuvate elektronide käitumisest tegelikus ruumis.

Mis on tunnelefekt ?
Tunnelefekt põhineb osakeste lainelaadsetele omadustele, mida selgitas alles kvantmehaanika.
Tavapärane STM põhineb elektrivoolu tugevuse mõõtmisel elektronide tunnelleerumisel läbi potentsiaalbarjääri uuritava pinna ja metallist mõtteteraviku vahel. Kui teraviku ja pinna vahele
17

.DOCX Laadi alla originaalfail 15 lk · .docx · 87 allalaadimist

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #1

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #2

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #3

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #4

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #5

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #6

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #7

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #8

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #9

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #10

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #11

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #12

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #13

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #14

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2 KT #15

50 punkti Autor soovib selle materjali allalaadimise eest saada 50 punkti.

~ 15 lehte Lehekülgede arv dokumendis

2012-06-20 Kuupäev, millal dokument üles laeti

87 laadimist Kokku alla laetud

1 arvamus Teiste kasutajate poolt lisatud kommentaarid

merku123 Õppematerjali autor

Materjali uurimismeetodite teise KT kordamise küsimuste vastused. Küsimused on pärit Urve Kallavuse loengumaterjalide viimastelt lehtedelt

Transmissioonelektronmikroskoopia Materjal uurimine TEM objekt elektronmikroskoop

Sarnased õppematerjalid

docx

I KT Kordamisküsimuste vastused

PROOVI VÕTMISE TEHNIKA 1. Mis on sihtpopulatsioon proovi võtmisel? Populatsioon, millele omistatakse mõõtmistulemused. 2. Mis on juhuslik proov? Kõige parema tulemuse annab proovide juhuslik väljavalimine. Juhusliku valiku korral on igal populatsiooni osal võrdne võimalus saada proovis esindatud. 3. Mis on esindusproov? Üksikproov, mis esindab mingi üldise nähtuse või populatsiooni keskmisi omadusi. Ei ole kuidagi võimalik valida sellist proovi juhuslikult või tõestada tema esinduslikkust. Proov esindab tõeliselt midagi ainult siis, kui see defineeritakse eelnevalt kui materjali esindaja. · Õhutemperatuur Tallinnas · Veetemperatuur Pirita rannas · Veeproovid 4. Mis on alamproov? Analüüsiks toodud proovi suurus on tavaliselt palju suurem kui analüüsiks vaja ja seetõttu tuleb proovi suurust laboris veel vähendada. Tuleb jälgida, et üksikmõõtm

Materjalide uurimismeetodid

pdf

Teema 4, Optoelektroonika elemendid ja infoesitusseadmed

Teema 4. Optoelektroonika elemendid ja infoesitusseadmed Käesolev tekst on osa abistavast j a täiendavast loengumaterj alist dots. Mihhail Pikkovi loengukonspekti j uurde õppeaines "Elektroonika alused". M.Pikkovi ainekava ja konspekti järgsed allteemad (http://www.ttykk.edu.ee/aprogrammid/elektroonika_alused_MP.pdf; lk. 8...10 ja 42...51): - Valgusdiood - Fotodiood - Fototakisti - Fototransistor - Fototüristor - Optronid - Infoesitusseadmed: elektronkiiretoru, vedelkristallpaneel, plasmapaneel, elektroluminestsentspaneel Käesoleva teksti sisujaotus: 4.1 Optoelektroonika mõiste ja sinna kuuluvate seadiste liigitus 4.2 Valgustundlikud seadised 4.2.1 Fotoefekti liigid 4.2.2 Sisefotoefektil põhinevad seadised 4.2.2.1 Fototakisti 4.2.2.2 Fotodiood 4.2.2.3 Fototransistor 4.2.2.4 Fototüristor 4.2.3 Välisfotoefektil põhinevad seadised 4.2.3.1 Vaakuumfotoelement e. fotorakk 4.2.3.2 Fotokordisti 4.3 Valgust emiteerivad seadised 4.3.

Elektroonika alused

docx

Keskkonnasaaste, -analüüs ja -seire Kontroltöö II kordamine

Kontroltöö II - kordamisküsimused Elektrokeemia. Kirjeldage potentsiomeetrilise analüüsi põhimõtet. Mis on Nernst´i võrrand? Nimetage potentsiomeetrias levinumaid elektroode Meetod, mis põhineb elektroodi potentsiaali mõõtmisel. Mõõta saab vaid raku potentsiaali. Potentsiomeetrilise analüüsi korral koosneb rakk võrdluselektroodist, soolasillast, analüüsitavast lahusest ja indikaatorelektroodist. Kokkuleppeliselt on võrdluselektrood anoodiks täpselt teada oleva konstantse potentsiaaliga, potentsiaal ei sõltu analüüsitava lahuse kontsentratsioonist. Potentsiomeetrilise analüüsi põhimõte: tundmatu elektroodi potentsiaali saab määrata teise elektroodi teadaoleva potentsiaali ja elemendi potentsiaali mõõtmise põhjal. Elektroodil tekkiv potentsiaal sõltub lahuses olevatest ioonidest ja nende ioonide kontsentratsioonist - sellist süsteemi on võimalik kasutada ioonide tuvastamiseks ja nende kontsentratsiooni määramiseks. Elektroodi potentsiaali sõlt

Keskkonnakaitse ja säästev areng

doc

Elektroonika alused (konspekt)

1. PN-Siire ja tema omadused 1.1 Elektrijuhtivus pooljuhtides Pooljuhid on materjalid, millised on elektri juhtide seisukohalt on juhtide ja isolaatorite vahepeal. Pooljuhte on palju, kuid elektroonikas kasutatakse väheseid. Kõige olulisem pooljuht kaasajal on räni. Ajalooliselt esimene oli germaanium. Veel kasutatakse gallium-arseniidi (Ga As), räni-karbiidi (SiC) jne. ?hiseks oluliseks omaduseks kõikidele pooljuhtidele on nende kristalliline ehitus. Aine kristallilise ehituse korral on iga aine aatomil oma kindel asukoht st. nad moodustavad kristallvõre. Igale ainele on omane mingi kindel ja teistest erinev kristallvõre st. aatomite paiknemine. Kui soovitakse ühtlast kristallvõret, siis ei tohi lubada aines lisandeid, sest lisandid tekitavad oma kristallvõret ja struktuur muutub. Kristallilisest ehitusest tulenevalt võime oletada aine elektronid võivad olla seotud kristall võrega. Tä

Elektroonika

doc

Fotograafia referaat

EUROAKADEEMIA KUJUNDUSKUNSTI TEADUSKOND Siia Pista Oma Nimi SK II FOTOGRAAFIA REFERAAT Õppejõud: Õppejõu Ees-ja Perenimi Tallinn 2011 Sisukord 1. Kaamera obskura........................................................................................3 2. Optiline kiirgus........................................................................................4-5 3. Valge valgus..............................................................................................6 4. Valguse allikad........................................................................................7-9 5. Optiline kujutis......................................................................................10-11 6. Optiline süsteem........................................................................................12 7. Fotoaparaatide enamlevinud formaadid ja klassifikatsioon.......................................13 8. Fotofi

Fotograafia

docx

Ehituskeemia I

Ehituskeemia Sissejuhatus Ehituskeemia selgitab materjalide keemiliste koostisosade tähtsust, nende olulist rolli materjalide koospüsimisel või lagunemisel toetudes anorgaanilise ja orgaanilise keemia põhimõistele LCA- elutsükli analüüs -Erinevate materjalide ja toodete hulgast valides teostatakse elutsükli hindamine, et süstemaatiliselt hinnata toote võimalikku keskkonnamõju kogu selle eluea jooksul -Aitab välja selgitada võimalused potentsiaalsete mõjude vähendamiseks ja ressursikasutuse vähendamiseks toote elus -Aitab tuvastada kompromisse, näiteks, kas mõne toote keskkonnamõju võib juhuslikult põhjustada teise keskkonnamõju suurenemise EPD toodete keskkonna deklaratsioonid -on mitmeotstarbeline avalikustamisvahend, mis pakub toote kohta standardiseeritud ja kontrollitud keskkonnateavet -eesmärk muuta toote keskkonnamõjud ja kompromissid läbipaistvaks ja võrreldavaks. Kasulik vahend toote säästvuse hindamiseks ja optimeerimiseks -pakub tootjatele vahende

Ehituskeemia

pdf

Kursuse YKA0060 Instrumentaalanalüüs kordamisküsimused-I osa

Kursuse „YKA0060 Instrumentaalanalüüs“ kordamisküsimused (I osa) 1. Analüütilise keemia definitsioon Analüütiline keemia - teaduslik distsipliin, mis arendab ja rakendab meetodeid, instrumente ja strateegiaid selleks, et saada infot nii aine koostise, iseloomu kohta ajas ja ruumis kui ka mõõtmise väärtustest. (Mis? Mis struktuuriga? Kui palju?) 2. Elektromagnetilise kiirguse korpuskulaar-laineliseks dualism Elektromagnetilist kiirgust (nt nähtavat valgust) saab vaadelda nii laine kui ka osakesena. 3. Elektromagnetlainete interferents ja difraktsioon Interferents - kaks kiirgusvoogu võivad üksteist kustutada või võimendada. Difraktsioon - kiirgus ei levi sirgjooneliselt vaid “paindub nurga taha”. 4. Energiaolekud ja üleminekute tingimus Energiaolekute üleminekutega kaasneb energia neeldumine (ergastus) või emissioon (relaksatsioon). Üleminekud toimuvad ainult siis, kui neelduv või emiteeritav energiahulk vastab täpselt energianivoode vahele. E1-

Instrumentaalanalüüs

docx

Laser

Ardo Laur LASER REFERAAT FÜÜSIKAS Sissejuhatus Kuigi esimene laseri nime kandev optiline seade ehitati alles 1960. aastal ameeriklase Maimani poolt, on tänaseks trükis ilmunud juba tuhandeid artikleid, mis käsitlevad selle seadme teooriat, tehnilist teostust, rakendusi ja tõenäolisi tulevikutäiustusi ning rakendusi. Laser on üpris eriliste omadustega uut liiki valgusallikas. Tema poolt kiiratud valgus võib olla erakordselt intensiivne, äärmiselt kõrge koherentsuse astmega ning koondunud väga kitsasse lainepikkuste vahemikku, pealegi võib valgus allikast väljuda kitsa paralleelkiirtekimbuna. Laseri väga intensiivne, rangelt koherentne ja kitsa paralleelkiirtekimbuna leviv kiirgus on toonud talle väga palju kasutusalasid. Laser ei ole mitte üksnes energiarikas ja suure intensiivsusega, vaid ühendab lisaks sellele mõningaid valguslainete jooned raad

Füüsika

Rohkem sarnaseid