Metreoloogia (0)

Tallinna Tehnikaülikool - Metroloogia - Metroloogia ja mõõtetehnika

1 Hindamata

A Osa

L - mõõtetulemuse aluseks on mõõteriista näidud L.

K- kalibreerimistunnistuse parand
READ - lugemi võtmine (ümardamine lähima täisjaotiseväärtuseni)
PAR - mõõteliinide paralleelsus
RECT - ristseis
RS - baaspinna asend
F - mõõtejõud
T – temperatuur
RO – pinnakaredus
MAT – materjal
RE - mõõtmiste vähesed kordused
Mudel üldkujul:
- pinna hälve sirgjoonelisusest,
ΔSTR = f(mõõtevahendi näit, faktorid )
ΔSTR = f(faktorid)= f(Lmax– Lmin; K; READ, PAR, RECT, RS, F; T, RO, RE)
- hälve pindade paralleelsusest, ΔPAR = f(mõõtevahendi näit, faktorid),
ΔPAR = f(faktorid)=f(PAR, RECT, RS, RO)
- hälve sümmeetrilisusest telje suhtes Δ SYM = f(mõõtevahendi näit, faktorid),
Δ SYM = f(faktorid)=f(READ, PAR, RECT, RS)

rakis + indikaatorkell , täpsustase 1 µm + pikkusplaat sobib ideaalselt.

Osa B

Bi= BREF+Ai+Ci

B11
B12
B13
B14
B15
1
12.087
12.087
12.062
12.123
12.119
2
12.112
12.154
12.055
12.136
12.166
3
12.095
12.098
12.124
12.14
12.035
4
12.08
12.166
12.098
12.152
12.121
5
12.111
12.077
12.134
12.042
12.109
6
12.133
12.067
12.104
12.162
12.126
7
12.066
12.044
12.174
12.121
12.096
8
12.045
12.17
12.095
12.09
12.12
9
12.094
12.123
12.048
12.16
12.061
10
12.097
12.049
12.074
12.095
12.035
SUM
120.92
121.035
120.968
121.221
120.988
Kui igas mõõtmiskohas on tekkinud hälve välja arvutatud, siis arvutan keskmise hälbe igale mõõtmiskohale.
B =
n- kordade arv, mitu korda mõõdeti
Bi – Igas mõõtmiskohas tekkinud hälve
B- Igas mõõtmiskohas tekkinud hälbe keskmine
Keskmine hälve
B11
B12
B13
B14
B15
12.092
12.1035
12.0968
12.1221
12.0988
0.00011321
7.396E-07
3.41056E-05
0.000378692
1.47456E-05
Keskmine hälve on 12.1
Standardhälve s
s=
s= 0.01046652
BMIN=12.035
BMAX=12.174

Leian B keskväärtuseintervallhälve tõenäosusastmel P=0.95 ehk α=0.05

Studenti tabelist kriitiline t (α=0,05; n=50; kahepoolne ) = 2,01
B-(t* Ḃ B+(t*
Bmin
12.09968184
Bmax
12.10559816

Teha mõõtme B histogramm ja sellele vastav teoreetilise normaaljaotuse tihedusfunktsiooni graafik f(x).

Intervallide arvuks valida 8 kuni 10.
Samm h=(Max–Min)/intervallide arv.
Normaaljaotusele vastav mõõtetulemuste arv ni“ intervallis i on leitav valemiga:
ni“= n*h*f( zi)
n- on mõõtetulemuste koguarv ,
h - on intervalli samm
f(zi) - on normaaljaotuse tihedusfunktsiooni väärtus kohal zi
f(zi) = NORMDIST(xi;X ,s, FALSE ), kus s on standardhälve ja X keskväärtus.
Intervall tabel
jkn
Intervalli algus
Intervalli lõpp
Kogus intervallis
Tigedus fun.
Teor. kogus intervallis
Intervalli kesk-väärtus
1
12.035
12.0489
6
1.5788E-06
1.09726E-06
12.04195
2
12.0489
12.0628
4
0.001562656
0.001086046
12.05585
3
12.0628
12.0767
3
0.259774608
0.180543352
12.06975
4
12.0767
12.0906
5
7.253138095
5.040930976
12.08365
5
12.0906
12. 1045
9
34.01348755
23.63937385
12.09755
6
12.1045
12.1184
3
26.78997766
18.61903448
12.11145
7
12.1184
12.1323
8
3.543965684
2.46305615
12.12535
8
12.1323
12.1462
4
0.07874131
0.05472521
12.13925
9
12.1462
12. 1601
3
0.000293841
0.000204219
12.15315
10
12.1601
12.174
5
1.84169E-07
1.27998E-07
12.16705
χ^2 emp
49.9989555
tabelist
χ^2 crit
14.1
Intervallida arv
10
järeldus: Võib eeldada normaaljaotuse mitteesinemisest põhikogumis

Hinnata nominaaljaotuse võimalus mõõtmisele B mõõtmistulemuste alusel.

Empiiriline χ2EMP=
Kriitiline χ2CRIT on saadav χ2 tabelist.
Tabelist kriitiline
χ2CRIT [α=0,05, (10 – 3 = 7) = 14,1 (ühepoolne)]
χ2CRIT
χ2EMP
Võib eeldada normaaljaotust põhikogumis

Leida dispersioonianalüüsi alusel süstemaatilise komponendi mõju mõõtme B mõõtepunktide vahel.

Tuleb teha järeldus: Võib eeldada süstemaatilise effekti puudumist mõõtepunktide vahel, kui
FEMPFaktorite arv – p, antud töös on faktoreid 10
Korduste arv faktori sees – q, antud töös on korduseid faktoris 10.
Arvutusvalemid:
SGEN=
SFACT=
SRES= SGEN- SFACT
s2RES= SRES/p(q-1) Vabadusaste k2=(p*(q-1))=9
s2FACT=SFACT/(p-1) Vabadusaste k1=(p-1)=2
FEMP= s2FACT/ s2RES
FCRIT(α; k1; k2)
Kodutöös on faktoriks konkreetne mõõtepunkt 1,2,3,4... detailil , (p=10) ja kordusi ühes mõõtepunktis 10, (q=10)
Dispersioonianalüüsi arvutustabel
SGEN= SFACT= SRES= s2RES= s2FACT=
FEMP=
k1= k2=
FCRIT(α; k1; k2)=
Järeldus: FEMP

.DOCX Laadi alla originaalfail 6 lk · .docx · 40 allalaadimist

50 punkti Autor soovib selle materjali allalaadimise eest saada 50 punkti.

~ 6 lehte Lehekülgede arv dokumendis

2014-06-09 Kuupäev, millal dokument üles laeti

40 laadimist Kokku alla laetud

0 arvamust Teiste kasutajate poolt lisatud kommentaarid

moonika93 Õppematerjali autor

Kodutöö

määramatus mõõtepunkt liitmääramatus standardhälve graafik komponent keskmine hälve

Sarnased õppematerjalid

doc

METROLOOGIA kodutöö

A Osa · L - mõõtetulemuse aluseks on mõõteriista näidud L. K- kalibreerimistunnistuse parand READ - lugemi võtmine (ümardamine lähima täisjaotiseväärtuseni) PAR - mõõteliinide paralleelsus RECT - ristseis RS - baaspinna asend F - mõõtejõud T temperatuur RO pinnakaredus MAT materjal RE - mõõtmiste vähesed kordused Mudel üldkujul: - pinna hälve sirgjoonelisusest, STR = f(mõõtevahendi näit, faktorid) STR = f(faktorid)= f(Lmax Lmin; K; READ, PAR, RECT, RS, F; T, RO, RE) - hälve pindade paralleelsusest, PAR = f(mõõtevahendi näit, faktorid), PAR = f(faktorid)=f(PAR, RECT, RS, RO) - hälve sümmeetrilisusest telje suhtes SYM = f(mõõtevahendi näit, faktorid), SYM = f(faktorid)=f(READ, PAR, RECT, RS) · rakis + indikaatorkell, täpsustase 1 µm + pikkusplaat sobib ideaalselt. Osa B · Bi= BREF+Ai+Ci B11 B12 B13

Metroloogia ja mõõtetehnika

xlsx

Metroloogia ja mõõtetehnika Kodutöö

A Osa L - mõõtetulemuse aluseks on mõõteriista näidud L. READ - lugemi võtmine K- kalibreerimistunnistuse (ümardamine parand lähima täisjaotiseväärtuse ni) PAR - mõõteliinide paralleelsus RECT - ristseis RS - baaspinna asend F - mõõtejõud T temperatuur RO pinnakaredus MAT materjal RE - mõõtmiste vähesed kordused Mudel üldkujul: - pinna hälve sirgjoonelisusest, STR = f(mõõtevahendi näit,Lmin; f(faktorid)= f(Lmax faktorid) K; READ, PAR, RECT, RS, F; T, hälve RO, RE) pindade paralleelsusest, PAR = f(mõõtevahendi näit, faktorid), PAR = f(faktorid)=f(PAR, RECT, RS, RO) rakis SYM =+f(faktorid)=f(READ, PAR, RECT, indikaatorkell, täpsustase 1 µm RS) + pikkusplaat sobib ideaalselt. Cp 1 B 18 H 11 L 180

Metroloogia ja mõõtetehnika

docx

Arvutustöö A12

KVALITEEDITEHNIKA JA METROLOOGIA ÕPPETOOL METROLOOGIA & MÕÕTETEHNIKA MHT0010/MHT0013 ARVUTUSTÖÖ ALGANDMED Esitamise kuupäev: 23.05.12 Arvestatud: Üliõpilane: Matrikli number: Õpperühm: MAHB41 Variandi number: A12 Mõõteskeem: OSA A. 1. Mõõtemudel mõõtme B ja hälvete mõõtmisel Sirgjoonelisuse hälve STR on mõõtevahendi näitude maksimaalne erinevus mõõteulatuses: Paralleelsuse hälve PAR on mõõtevahendi näitude maksimaalne erinevus mõõteulatuses: Sümmeetrilisuse hälve SYM on leitav valemiga: Laius: 2. Mõõteriista valik Kuna vajatav täpsustase on 5 m, siis valin mõõteriistaks digitaalse indikaatorkella, mille mõõtetäpsuseks on 1 m ning millel on olemas ka rakis. Lisaks veel pikkusplaat. OSA B. Tabel 1. Algandmed A1 42 74 20 15

Metroloogia ja mõõtetehnika

docx

Metrologia koduneülesanne

OSA A. 1.Mõõtemudel mõõtme B ja hälvete mõõtmisel Sirgjoonelisuse hälve STR on mõõtevahendi näitude maksimaalne erinevus mõõteulatuses: Paralleelsuse hälve PAR on mõõtevahendi näitude maksimaalne erinevus mõõteulatuses: Sümmeetrilisuse hälve SYM on leitav valemiga: Laius: 2. Mõõteriista valik Kuna vajatav täpsustase on 5 m, siis valin mõõteriistaks digitaalse indikaatorkella, mille mõõtetäpsuseks on 1 m ning millel on olemas ka rakis. Lisaks veel pikkusplaat. OSA B. Tabel 1. Algandmed A6 7 3 4 4 5 9 2 4 1 7 1 6 6 8 4 7 3 6 4 A 2 5 6 4 8 3 8 4 7 2 4 2 8 3 4 3 8 8 3 4 A7 3 6 4 2 3 4 6 3 3 4 8 8 2 8 6 9 5 4 4 A5 4 7 6 3 8 9 4 5 1 4 1 0 1 6 2 2 6 9 6 0 A8 4 3 3 4 3 8 8 6 5 9 1 7 5 4 8 9 8 9 4 C1 6 7 8 6 5 2 9 5 1 6 0 1 5 6 9 9 6 9 0 2 C4 6 6 7 2 5 4 6 8 2 7 5 1 5 1 7 3 1

Metroloogia ja mõõtetehnika

pdf

MHT0010 Metroloogia ja mõõtetehnika kodutöö

Osa B. Mõõtetulemuste hinnangud, usaldusvahemikud ja statistiline jaotumine 3. Leida detaili mõõtme B keskväärtus ning standardhälve. keskväärtus standardhälve Mõõtme B väärtused [mm] B1 20,063 20,121 20,163 20,182 20,105 20,106 20,039 20,153 20,063 20,03 B2 20,049 20,083 20,123 20,134 20,071 20,136 20,079 20,152 20,128 20,096 B3 20,133 20,026 20,084 20,111 20,1 20,071 20,117 20,1 20,14 20,045 B4 20,117 20,087 20,084 20,12 20,045 20,1 20,176 20,084 20,101 20,049 B5 20,072 20,095 20,09 20,053 20,124 20,073 20,134 20,127 20,071 20,1 (xi - x)2 B1 0,0012 0,0005 0,0042 0,0070 0,0000 0,0001 0,0035 0,0030 0,0012 0,0046 B2 0,0024 0,0002 0,0006 0,0013

Metroloogia ja mõõtetehnika

xlsx

KODUTÖÖ METEROLOOGIA JA MÕÕTETEHNIKA Kodutöö A12, Excel tabel

OSA A 1. Mõõtemudel mõõtme B ja hälvete mõõtmiseks 2. Mõõteriista valik. Vajatav täpsustase 5 m Valin: Digitaalne indikaatorkell (täpsus 1m) rakisega + pikkusplaat OSA B Tabel 1. Algandmed A1 42 74 20 15 52 87 25 1 A2 32 93 33 55 50 24 3 56 A3 47 54 62 46 41 71 79 55 A4 51 40 71 66 32 82 96 49 A5 60 80 25 41 74 85 22 55 C6 50 28 75 65 59 46 51 44 C7 45 61 65 71 27 53 41 64 C8 71 76 46 48 44 57 23 6 C9 82 96 69 56

Metroloogia ja mõõtetehnika

pdf

Rakendusstatistika kodutöö

Korrastatud variatsioonirida: 1; 6; 7; 8; 9; 12; 13; 18; 19; 23; 24; 26; 26; 33; 34; 35; 35; 38; 39; 39; 41; 44; 44; 45; 45; 45; 46; 47; 48; 48; 48; 54; 56; 58; 58; 58; 59; 60; 61; 62; 66; 68; 68; 69; 71; 71; 74; 75; 76; 77; 80; 86; 88; 89; 89; 90; 94; 94; 97; 99. Eksete hindamine 𝑥3 −𝑥1 Min 𝑅𝑙𝑜𝑤 = 𝑥 = 0.06452 < 0.265 𝑛−2 −𝑥1 𝑥𝑛 −𝑥𝑛−2 Max 𝑅ℎ𝑖𝑔ℎ = 𝑥𝑛 −𝑥3 = 0.05435 < 0.265 DCRIT(0.05; 60)= 0.265 Järeldus: Eksed puuduvad, sest nii Rlow kui ka Rhigh on väiksemad kui DCRIT. Tõenäosus, et partiis n=60 esineb vähemalt 2 erinevat väärtust 𝑣äℎ𝑒𝑚𝑎𝑙𝑡 2 𝑒𝑟𝑖𝑛𝑒𝑣𝑎 𝑎𝑟𝑣𝑢 𝑒𝑠𝑖𝑛𝑒𝑚𝑖𝑠𝑒 ℎ𝑢𝑙𝑘 46 𝑃(𝑣äℎ𝑒𝑚𝑎𝑙𝑡 2 𝑒𝑟𝑖𝑛𝑒𝑣𝑎𝑡 𝑎𝑟?

Rakendusmatemaatika

docx

Rakendus statistika kodutöö

ni xini nx2 ni(x- x)2 xi 2 1 2 4 2512,01 6 1 6 36 2127,05 7 1 7 49 2035,81 12 1 12 144 1609,61 17 1 17 289 1233,41 18 4 72 1296 4656,70 20 1 20 400 1031,69 22 1 22 484 907,21 27 2 54 1458 1262,03 29 1 29 841 534,53 31 1 31 961 446,05 34 1 34 1156 328,33 36 1 36 1

Rakendusstatistika

Rohkem sarnaseid