Lineaarselt polariseeritud valgusega on tegemist siis, kui elektrivälja tugevus muutub ainult ühes kindlas sihis. (Lubatud on ainult üks kindel võnkesiht). Sellega on tegemist siis kui kiirte intensiivsused on erinevad, või faasinurk on erinev täisnurgast.
k = 2. Leidke vähimruutude meetodil katsepunktide parvele parim lähendussirge. λ Kuna pilu laius D on teada, siis arvutage sirge tõusu järgi, milleks on D , laserkiirguse lainepikkus ja tõusu määramatuse järgi lainepikkuse mõõtemääramatus. 6. Joonestage difraktsioonipildi suhtelise intensiivsuse graafik lk / l0 = f(l), lugedes miinimumide intensiivsused nulliks. Katseandmete tulemused Difraktsioonimaksimumide ja –miinimumide nurkkauguste ning maksimumide suhtelise intensiivsuse määramine Jrk Max/min järk Max/min Luksmeetri Suhteline nr k asukoht 2lk lk sin φk näit intensiivsus
Skeem 1. Töö teoreetilised alused 2 2. Töö käik 1. Tutvuge polarimeetri ehitusega ja tema reguleerimisvõimalustega. Määrake polarimeetri ringskaala nooniuse täpsus. 2. Lülitage polarimeetri lamp sisse ning teravustage okulaari pööramisega pikksilma vaateväli. I1 I 2 Vaatevälja poolte intensiivsused peavad sel juhul olema erinevad: (vt joonise 21.2 vasakvõi parempoolset osa). Fokuseeritud pildi korral on heleda ja tumeda poolringi lahutusjoon selgepiiriline. 3. Leidke polarimeetri nullasend. Selleks pöörake analüsaator sellisesse asendisse, kus pikksilma I1 I 2 kogu vaateväli on ühtlaselt nõrgalt valgustatud, st (vt joonise 21.3 keskmine osa). Märkige üles skaala lugem α0 . 4
ääramine spektrofotomeetrilisel meetodil (ISO GUM) mise spektrofotomeetrilise meetodi aluseks on ammooniumi vilise kompleksi moodustamisega, mida saab spektrofotomeetriliselt ensiivsus otseselt sõltub ammooniumi kontsentratsioonist proovis; sorptsioon, seda kõrgem on ammooniumi sisaldus. kontsentratsioon, väljendatud kui lämmastiku kontsentratsioon miseks koostati kalibreerimisgraafik kasutades erineva andardlahuseid: aadi vastavad signaali intensiivsused: 0; 1,0 AU (arbitrary units) tõusu (b1) ja algordinaadi (b0) standardhälbed olid vastavalt 0,005 AU*l/mg ja 0,003 AU. t seda lahjendati 1,25 korda. määramatust saab hinnata kui 0,5% lahjendusfaktori (fd) väärtusest. i kompleksi signaali intensiivsuseks (Asample) 0,186 AU. rduvuse määramatus on 0,001 AU. tingitud signaali lugemise triivist on hinnanguliselt 2% signaali intensiivsusest. ntratsioon proovis tuleb leida kalibreerimisgraafikult vastava mudeli järgi:
N=10lg(I/Io), kus I on helitugevus ning Io on inimese kuuldelävi. 1000 Hz heli valjus on 1 foon, kui tema helitase on 1 detsibell. Igal skaalal peab olema mingi nullpunkt, millest algavad lugemid positiivses või negatiivses suunas. Heli intensiivsuste puhul on lähtepunktiks kuuldelävi (minimaalne heli intensiivsus või rõhk, mida tajutakse helina), mida nimetatakse nullnivooks. Nii saamegi skaala detsibellides, millele ei ole märgitud heli intensiivsuse arvulised väärtused, vaid heli intensiivsused detsibellides. Helivaljuse taju sõltuvust helikõrgusest ehk helisagedusest väljendab helivaljuse mõõtühik foon. 1000 Hz-lise heli tugevus detsibellides on võrdne sama heli valjusega foonides. Helivaljus on heli intensiivsuse subjektiivne taju. Sõltub intensiivsusest (või helirõhust) ja sagedusest. Helilainete intensiivsus on ühtlasi ka heliallika võnkeamplituud. Amplituud on võnkekõvera harja maksimaalne kaugus keskjoonest ehk tasakaaluolekust ja see iseloomustab helitugevust
6. Neeldumise ja emissiooni spektrite seos Neeldumise ja emissionni spektrid on seotud nii, et nad esinevad samadel lainepikkustel. Neeldumine esined kui me külmutame gaasi ning ta hakkab valgust absorbeerima. Emissioon toimub kui me kuumutame gaasi ja ta hakkab valgust kiirgama. 7. Kiirgusallikad spektroskoopias Peab olema intensiivne, stabiilne. Lambid, laserid. Pideva spektriga KA-d - kiirgavad laias lainepikkuste vahemikus, milles erinevate lainepikkuste intensiivsused on enam-vähem samad. Näiteks: Vesiniku/deuteeriumi lamp, Volframlamp, Xe lamp. Joonspektriga KA-d - produtseerivad teatud lainepikkustega kiirgust. Näiteks: Gaaslahenduslamp, Hõõglamp, Laser. 8. Kindla lainepikkuse valimine filtrite abil Absorptsioonfiltrid - lasevad läbi kiirgust kuni kindla (“äralõike”) lainepikkuseni või alates mingist kindlast lainepikkusest. Filtri materjal varieerub. Läbilaskvus ainult 10%. Näiteks: värviline klaas.
Liigitatakse elektromagnetlaine sageduse järgi. 5. Neeldumise ja emissiooni spektrite seos Aatom neelab peamiselt kiirgust, mille sagedus vastab energiaväärtustele aatomi erinevate orbitaalide vahel. Aatom aga ise kiirgab just samadele energiavahemikele vastavat kiirgust. Aatom võib neelata samu valguse sagedusi, mida ta võib kiirata. Kui on teada aatomi neeldumisspekter, on sellest arvutatav vastava aatomi kiirgusspekter ning vastupidi. Emissiooni ja neeldumise spektrite intensiivsused on väga erinevad mistõttu nad pole ühesed. 6. Kiirgusallikad spektroskoopias Kiirgusallikas peab olema intensiivne ja stabiilne. Allikaid võib jagada kahte gruppi - pidev spektriga või joonspektriga kiirgusallikad. Pidev spektriga allikad kiirgavad laias lainepikkuste vahemikus ning nende intensiivsus on enam vähem sama. Joonspektriga allikad produtseerivad teatud lainepikkustega kiirgust. 7. Monokromaatori tööpõhimõte
Valulävi logaritmilises skaalas Valuläve ja kuulmiseläve vahe seega 5. Kui suur on liitmüra, kui nt sõiduauto müra on L1=75dB, veoauto müra on L2=80 dB. Tähistame sõiduauto müra lineaarses skaalas I1 ja veoauto müra I2. Kirjutame mõlema auto jaoks võrrandi, mis väljendab logaritmilise skaala müra arvutamist lineaarse skaala kaudu: Et avaldada nendest võrranditest autode mürade intensiivsused lineaarses skaalas, vastavalt I1 ja I2 , jagame esmalt kumbagi võrrandit 10-ga: Järgmiseks vabaneme logaritmist (kasutame logaritmi definitsiooni): millest mürad I1 ja I2 : Lineaarskaalas väljendatud mürasid võib liita, seega mürade summa lineaarskaalas Teisendame mürade summa logaritmilisse skaalasse Seega on sõiduauto (75 dB) ja veoauto (80 dB) summaarne müra 81.19 dB II 1. Millised on ehitusakustika põhilised ülesanded
Joonis. Vaatame ainult E (elektriväljatugevuse) vektorit. k on valguse liikumise suund. Lineaarselt polariseeritud valgusega on tegemist siis, kui elektrivälja tugevus muutub ainult ühes kindlas sihis. (Lubatud on ainult üks kindel võnkesiht). Lubatud võnkumiste tasandit nimetatakse polarisatsioonitasandiks, mis on määratud vektoritega E ja k. 87. Mis on elliptiliselt polariseeritud valgus? Valem, selgitused. Elliptiliselt polariseeritud valgusega on tegemist siis kui kiirte intensiivsused on erinevad, või faasinurk on erinev täisnurgast. P- polarisatsiooniaste. I- valguse intensiivsus. Loomulik valgus: Lineaarselt polariseeritud valgus: Elliptiliselt polariseeritud valgus: 88. Malus' seaduse tuletus. Miks loomuliku valguse täielikul polariseerimisel kaotame intensiivsuse kaks korda. Polariseeritud valguse saamiseks kasutatakse polarisaatoreid. Malusi seadus käsitleb valguse intevsiivsust polarisaatorist läbimisel. Loomuliku valguse läbiminekul polarisaatorist kahaneb
Joonis. Vaatame ainult E (elektriväljatugevuse) vektorit. k on valguse liikumise suund. Lineaarselt polariseeritud valgusega on tegemist siis, kui elektrivälja tugevus muutub ainult ühes kindlas sihis. (Lubatud on ainult üks kindel võnkesiht). Lubatud võnkumiste tasandit nimetatakse polarisatsioonitasandiks, mis on määratud vektoritega E ja k. 87. Mis on elliptiliselt polariseeritud valgus? Valem, selgitused. Elliptiliselt polariseeritud valgusega on tegemist siis kui kiirte intensiivsused on erinevad, või faasinurk on erinev täisnurgast. P- polarisatsiooniaste. I- valguse intensiivsus. Loomulik valgus: Lineaarselt polariseeritud valgus: Elliptiliselt polariseeritud valgus: 88. Malus' seaduse tuletus. Miks loomuliku valguse täielikul polariseerimisel kaotame intensiivsuse kaks korda. Polariseeritud valguse saamiseks kasutatakse polarisaatoreid. Malusi seadus käsitleb valguse intevsiivsust polarisaatorist läbimisel. Loomuliku valguse läbiminekul polarisaatorist kahaneb
lisandist põhjustatud takistus, Ci- lisandi konsentratsioon, aatomosa; a-konstant, sõltub aga nii põhiainest kui ka lisandist. 10.Valguse peegeldumine mittemteallilise materjali pinnalt? Kui valgus läheb ühest keskkonnast teise, erineva murdumisnäitajaga keskkonda, siis osa kiirgust peegeldub piirpinnal ka siis kui on tegemist kahe läbipaistva keskkonnaga. Peegeldusvõime määrab seos: R=Ir/Io kus Ir ja Io on vastavalt peegeldunud ja langeva valguse intensiivsused. 11.Kas faaside koostis kahefaasilises alas muutub tempreatuuriga? 12.Analüüsige binaarset eutektikaga olekudiagrammi.
valguseks. Aisting sõltub sellest milline on selle lainepikkus. Valge valgus jaguneb piirkondadeks, millest kõige lühem lainepikkus on violetne kiirgus, siis on sinine, helesinine, kollane, roheline, oranz ja lõpuks punane. · Üle 760 infrapunane kiirgus. Neeldudes tekitab soojust, energia läheb molekulide kiiruse tõstmiseks ja see tähendab soojenemist. Nende 3 kiirguse intensiivsused ei ole samasugused. Kõige kõrgem intensiivsus on 480-500 nm. Kiirgus, mis tuleb, aga osakestega kokku puutes muudab oma suunda või peegeldub nimetatakse hajumiseks. Ning osa kiirgusest satub maapinnale hajusalt. Valgus jõuab maale kaht moodi: · Otsekiirgus paralleelsete kiirtena tuleb maapinnale. Mõõdetakse aktinomeetriga. Solaarkonstant (mõiste puudu) tähistatakse S0. Mõõdetakse siis kui Maa on Päikesest keskmisel kaugusel
Paralleelselt tehakse kontrollkatse, määratakse uuritavat ainet mittesisaldava lahuse foonfluorestsentsi ehk blanki väärtust. Uuritava lahuse fluorimeetri näidtudest lahutatakse fooni väärtus. X = [(nproov nblank)*] / [nst nblank] Kus n - fluorestsents Sellel meetodil saab tulemust arvutada juhul, kui proovi konts on enamvähem teada ja on võimalik teha uuritavale proovile lähedase konts-ga stand.lahus (intensiivsused ei tohi erineda rohkem kui 2,5 korda). Vastasel juhul tuleb mõõta mitme stand.lahuse fluorestsents ja saadud tulemuste alusel arvutada välja klassikaline kalibratsioonigraafik. Saab teha ka mitme ainete sisaldava segu fluorestseerumine, isegi juhul, kui kõik ained fluorestseeruvad. On võimalik valida selline ergastus/emissioonilainepikkuse kombinatsioon või kkonna tingimused (pH), et fluorestseeruks ainult vajalk aine 1.6 AATOMABSORPTSIOONSPEKTROFOTOMEETRIA.
Ci -- lisandi konsentratsioon, aatomosa; A -- konstant, sõltub aga nii põhiainest kui ka lisandist. 10. Va1use peegeldumine mittemetallilise materjali pinnalt? Kui valgus läheb ühest keskkonnast teise, erineva murdumisnäitajaga keskkonda, siis osa kiirgust peegeldub piirpinnal ka siis kui on tegemist kahe läbipaistva.keskkonnaga. Peegeldusvõime määrab seos: R=Jr/Jo kus Jr ja Jo on vastavalt peegeldunud ja langeva valguse intensiivsused. 11. Kas faaside koostis kahefaasilises alas muutub temperatuuriga. 12. Analüüsige binaarset eutektikaga olekudiagrammi.
o Normaalse kuulmise korral ning sagedusel 1000 Hz on kuuldelävi suurusjärgus (0 db). o Vaevuslävi (surumis-, rõhumistunne) 1 (120 db). o Valulävi 10 (130 db). o Psühhofüüsikalises logaritmilises skaals kasutatakse ühikutena psühhofüüsikalisi belle ja psühhofüüsikalisi detsibelle ehk foone. · Heli intensiivsuste (detsibellides) liitmine. o Kui on vaja liita detsibellides antud kahe erineva heliallika intensiivsused, siis ei saa seda teha detsibellide skaalas, vaid tuleb siirduda lineaarsesse skaalasse. · Ultraheli, ultrahelilokaator, kasutamisnäited. o Ultraheliks nimetatakse elastsuslaineid sagedusega üle 20 000 Hz, lainepikkus 1,6 cm. Sageduse suurenemisel lainepikkus väheneb, seega =1,6 cm on maksimaalne väärtus UH lainetele. Mida lühem lainepikkus, seda sirgjoonelisemalt levib laine.
27 Marss 1.52 " 1.88 aastat + 1.7 Jupiter 5.2 " 11.86 " 1.6 Saturn 9.5 " 29.46 " + 0.3 Tähe või planeedi suurusjärk on tema sära suhtelise intensiivsuse mõõtühik. Palja silmaga on võimalik näha kuni kuuenda suurusjärgu taevakehi. Kahe järjestikuse suurusjärgu (magnitude) taevakeha sära intensiivsused erinevad teineteisest kaks korda, näiteks esimese suurusjärgu täht paistab kaks korda heledam teise suurusjärgu tähest, nullsuurusjärgu täht on kaks korda heledam esimese suurusjärgu tähest jne. Kui taevakehade suurusjärgud muutuvad aritmeetilises progressioonis, siis nende suhteline heledus muutub geomeetrilises progressioonis. Nagu tabelist näha, on Veenus planeetidest kõige heledam. Tabelis on toodud planeetide keskmised suurusjärgud, tegelikult
põhjustavad servad, sel juhul võib lugeda 3 nulliga võrdseks. KÜSIMUS: 14) Selgita faasimodulatsiooni meetodi tööpõhimõtet? Miks seda meetodit kasutatakse? 35 5 VALGUSE PEEGELDUMINE. RAKENDUSED. 5.1 Rakendus: ellipsomeetriline murdumisnäitaja mõõtmine Fresneli valemid dielekriku piirpinnalt peegeldunud valguse intensiivuse arvutamiseks: sin 2 ( - ) tan 2 ( - ) = sin 2 (1 +2 ), = tan 2 (1 +2 ), kus ja on intensiivsused vastavalt langemistasandiga risti 1 2 1 2 ja lagnemistasandiga paralleelselt lineaarselt polariseeritudpealelangeva valguse jaoks. 5.2 Rakendus: ellipsomeetriline murdumisnäitaja mõõtmine Ellipsomeetria on optiline meetod materjalide ja õhukeste kilede iseloomustamiseks lähtudes objektilt peegeldunud (või seda läbinud) valguse erinevalt polariseeritud komponentide elektrivälja amplituudide ja faaside omavahelistest erinevustest. Kui
aine tükk, mille pind on lihvitud. Difaktogramm on peegeldunud röntgenkiirte intensiivsuse üleskirjutis röntgenkiirte langemisnurga suhtes. Braggi võrrand: nl=2dsinq, kus d on aatomipindade vaheline kaugus, l röntgenkiirte lainepikkus, q kiirte langemise nurk. Difaktogrammi interpretatsioon: vastavalt nurgale, mille juures on refleks, määratakse selle piigi d väärtus. Kõikide piikide suhtelised kõrgused on intensiivsused. Suht. inten.-sed määratakse kõige intensiivsema refleksi suhtes. Kristallaineid on võimalik identifitseerida seetõttu, et iga puhas kristallaine omab ainult sellele ainele omase d väärtuste komplekti. 17. Puistematerjal on materjal, mille osakeste läbimõõt on >500mm. Pulbrite osakeste läbimõõt on 100-500mm. Pulbriliste materjalide puhul eristatakse eripindu:1) üldine eripind – välispind+ sisepind; iseloomustatakse m2/l; 2) sisemine eripind – pooride pind
Kui valguskiir läheb suurema murdumisnäitajaga keskkonnast väiksema murdumisnäitajaga keskkonda, siis võib toimuda valguse täielik sisepeegeldumine (joon 12-4).Kiire 1 murdumisnurk on 90, sellele vastavat langemisnurka nimetatakse sisepeegeldumise kriitiliseks nurgaks. Kui langemisnurk , toimub täielik sisepeegeldumine (kiir 2). 12.4.2 Valguse peegeldumine Pinna peegeldumisvõime (peegeldumistegur) R avaldub: ja kus ja on pealelangeva ja peegeldunud valguse intensiivsused. Kui valgus langeb õhukeskkonnast läbipaistva materjali pinnale risti, siis on peegeldumistegur seotud murdumisnäitajaga n järgmise võrrandiga: Mida suurem on n, seda suurem on ka R. 12.4.3 Valguse neeldumine ja läbiminek Läbipaistvas materjalis mitteneeldunud (läbi läinud) valguse intensiivsus I avaldub võrrandiga: Mida väiksemad on ja l, seda rohkem valgust läbib materjali. Vaatleme lõpuks, kui palju langenud valgusest
kromatograafias: GC-MS gaasikromatograafia detektorina on massispektromeeter juba ammu rutiinkasutuses. Kandegaasi hulk on väike, kuna kasutatakse kapillaarkolonne. LC-MS uus meetod. Analüüsitavate ainete eraldamine eluendist on probleem, sest vedel keskkond ei sobi vaakumisse. Liides (ESI, APCI), mis tagab analüüdi jõudmise massispektromeetrisse ilma eluendita, on jõudnud piisavale tehnilisele tasemele alles viimase 10 aasta jooksul. TIC (total ion chromatogram) massispektrite intensiivsused on summeeritud. EIC (extracted ion chromatogram) vaadeldakse ainult kindla m/z-ga iooni intensiivsuse muutumist ajas. 160. Levinumad ionisatsiooniallikad massispektromeetrias, nende võrdlus. Ioonide tekitamine: Gaasifaasist: EI (electron ionization) ja CI (chemical ionization) I don't want to know the answers, I don't need to understand Vedelast faasist: ESI (electrospray ionization), APCI (atmospheric pressure chemical ionization)
Mittekuubilises kristallvõres kristalliseeruvates materjalides "n" on anisotroopne: suuremad "n" väärtused vastavad tihedama pakkimisega suundadele. 8.5.2. Kiirguse peegeldumine (joon. 8.9) Kui valgus läheb üle ühest keskkonnast teise erineva murdumisnäitajaga keskkonda, siis osa kiirgust peegeldub piirpinnal ka siis kui on tegemist kahe läbipaistva keskkonnaga. Peegeldusvõime (joon. 8.9) IR R= Io kus I R ja I o on vastavalt peegeldunud ja langeva valguse intensiivsused. Kui valgus langeb risti pinnaga siis 2 n - n1 R = 2 n2 + n1 kus n 2 ja n 1 on vastavalt kahe keskkonna murdumisnäitajad. Kui üheks keskkonnaks on vaakuum või õhk, siis 2 n -1 R= n + 1 kus n - teise keskkonna murdumisnäitaja. Siit järeldub, mida suurem on aine murdumisnäitaja, seda suurem on selle aine pinna peegeldumisvõime. Et murdumisnäitaja 68
annaabi.ee 
