6. Tekstuur võimalik edastada pildistava pinna omadusi. 2 VÄLGUTI Sissehitatud välgutid peavad olema üsna väiksed ning pildistades suuri kaugusi ja suuri objekte, pole nad kuigi kasulikud seepärast ,et see ei anna midagi. Kui kaamerale saab paigutada võimsat välgutit, siis tasub selle asja ostmiseks raha kulutada. NÕUANNE FILTRITE KOHTA Saavutamiseks lihtsaid, kuid sageli mõjusaid eriefekte, muretsege hulk objektiivile kinnitavaid filtreid,mis muudavad kujutise omadusi ning väri. Värvifiltridega saab muuta must-valget kontrastsemaks ja tekitada filimil huvitavaid toone. Kuigi objektiivile keeratavad filtrid on sageli parimad, võivad nad osutada üsna kalliks, sest objektiivide läbimõõdud on erinevad. Ühefiltri komplekt võib olla üsna odav. Ultraviolettfiltri võibki jätta objektiivi ette,et seda tolmu kaitsta ning see ei sega pildistamist ka. FILMI VÄLJAVÕTMINE KAAMERAST
peeglist. Optilise skeemi üles anne on koondada elektromagnetilist kiirgust fookusesse, kus tekib kujutis, mida on võimalik vaadelda ja reeglina ka jäädvustada. Optilisi teleskoope liigitatakse valgust koondavate elementide põhjal kolmeks. Refraktori puhul kasutatakse objektiiviks koondavat läätse. (Galilei teleskoop, Kepleri teleskoop) Reflektoril on objektiiviks nõguspeegel.(Newtoni teleskoop (1668) Katadioptrilistel teleskoopidel koosneb objektiivile vastav optiline skeem nii peeglitest kui läätsedest. (Schmidti kaamera 1930) Teiste lainealade teleskoobid - Kaugete taevakehade poolt kiiratavaid raadiolaineid, röntgenkiirgust ja gammakiirgust uuritakse vastavalt raadio-, röntgen- ja gammateleskoopidega. Infrapuna- ja ultraviolettkiirguse registreerimiseks kasutatakse tavalisi optilisi teleskoope, kuid vastavalt lainealale tuleb kasutada sobivaid detektoreid. Esimesena üldse saadeti kosmosesse
sekundaarpeegel aga hüperboolne kumerpeegel, mis peegeldab koonduva kiirtekimbu (fookuskaugust seejuures suurendades) läbi peapeeglis keskel oleva avause fookusesse. · Richie-Chretieni teleskoobil on nii pea- kui sekundaarpeeglid hüperboolsed, fookuse tasand on tasane ning väga suures ulatuses moonutustevaba. Selline optiline skeem on näiteks Hubble'i kosmoseteleskoobil. Katadioptrilistel teleskoopidel koosneb objektiivile vastav optiline skeem nii peeglitest kui läätsedest. · Schmidti kaamera skeemis korrigeeritakse sfäärilise peapeegli kujutist peegli ette asetatud õhukese korrektsiooniläätsega, mille ristlõige piki raadiust on lainekujuline. Kaamera tekitab kujutise teleskoobi kõverpinnal asuvasse fookusesse, mis paikneb korrektsiooniläätse ja peegli vahel. · Maksutovi teleskoobil korrigeeritakse sfäärilise peapeegli
photograms, pannes asju fotopaberile ja eksponeerides varje lambipirni abil. 1924.a. laskis firma Leitz välja maailma esimese kompaktse väikekaamera (Leica), mis sai 1930.a. ja 1940.a. -te populaarseimaks fotoaparaadiks. Leica Ajalugu 1925: André Kertész liigub sünnimaalt Ungarist Pariisi, kus ta alustab 11- aastase projekti fotografeerimiseks tänava elu. 1934: Fuji Photo Film avastati. Aastast 1938 teeb Fuji kaameraid ja lisab objektiivile läätse. Ajalugu 1936: Areng Kodachrome'i poolt- esimene värviline mitmekihiline värvifilm; areng Exakta poolt- teedrajav 35mm ühe-objektiiviga peegelkaamera 1947.a. konstrueeris ameerika leidur E.Land esimese monoprotsesskaamera. Ajalugu 1948: Hasselblad Rootsist pakub oma esimese keskmises formaadis peegelkaamera kaubanduslikuks müügiks; Pentax võtab Jaapanis kasutusele automaatse diafragma;
Fotograafilised filtrid jaotatakse oma kuju järgi kaheks suureks grupiks: a. Ümarad filtrid - Filter koosneb filtrist endast ning filtrirõngast. viimane on valmistatud enamasti alumiiniumist ning on varustatud keermega. Selle abil kinnitatakse filter objektiivi ette. Kuna objektiive on nii suurema kui ka väiksema diameetriga, siis ei sobi üks filter ühe filtrikeermega igale objektiivile. Nagu filtrite nii on ka objektiivide tehnilistes andmetes alati ära näidatud filtrikeere. Viimane on alati märgitud ka objektiivile ning samuti objektiivikorgi siseküljele. Mõõt on antud millimeetrites. 18 b. Kandilised filtrid koosneb filtrihoidjast ning filtrist endast. Esimene on valmistatud
Olgu objekti pinna suurus , siis jõuab tema kiirgusest ( ) objektini vaid see osa, mis vastab objektiivi pindalale (objektilt vaadatuna) Süsteemi valgusjõud näitab, kuimitu korda on kujutise pind heledam objekti omast. Ta on võrdeline süsteemi suhtelise ava ruuduga. kus on objektiivi raadius ja objekti kaugus objektiivist. Optiline süsteem annab sellest kujutise pindalaga ning heledusega , kusjuures peab olema võrdne eseme poolt objektiivile kiiratud valgusega: Kujutise ja objekti heleduste suhteks saame seega ning, arvestades joonsuurendust Saame Avaldist , kus on objektiivi läbimõõt, nim. süsteemi (objektiivi) suhteliseks avaks. Näeme, et valgusjõud on võrdeline suhtelise ava ruuduga. 18 loeng. amapaksuse interferents tekib juhul, kui vaatame muutuva paksusega kihti mingi kindla nurga all. Lähtevalemiks võib olla eelmise punkti (samakalde) valem, ainult et nüüd on
võrdleme objekti heledust kujutise heledusega . Lihtsuse mõttes võtame objektiks mati pinna, mis kiirgab ühtlaselt tema kohale jäävasse ruuminurka . Olgu objekti pinna suurus , siis jõuab tema kiirgusest ( ) objektini vaid see osa, mis vastab objektiivi pindalale (objektilt vaadatuna) kus on objektiivi raadius ja objekti kaugus objektiivist. Optiline süsteem annab sellest kujutise pindalaga ning heledusega , kusjuures peab olema võrdne eseme poolt objektiivile kiiratud valgusega: Kujutise ja objekti heleduste suhteks saame seega 18. Samakalde interferents tekib, kui paralleelne kiirtekimp (päikesevalgus) langeb tasaparalleelsele plaadile (jääkiht veelombi pinnal). Siis näeme korraga kaht kiirt: ühte, mis peegeldub (jää)kihi ülemiselt ja teist, mis peegeldub alumiselt pinnalt. Kuna teise kiire tee on pikem, hilineb ta faasis võrra. Arvestades, et optiliselt tihedamas keskkonnas kasvab "optiline tee pikkus"
võrdleme objekti heledust kujutise heledusega . Lihtsuse mõttes võtame objektiks mati pinna, mis kiirgab ühtlaselt tema kohale jäävasse ruuminurka . Olgu objekti pinna suurus , siis jõuab tema kiirgusest ( ) objektini vaid see osa, mis vastab objektiivi pindalale (objektilt vaadatuna) kus on objektiivi raadius ja objekti kaugus objektiivist. Optiline süsteem annab sellest kujutise pindalaga ning heledusega , kusjuures peab olema võrdne eseme poolt objektiivile kiiratud valgusega: Kujutise ja objekti heleduste suhteks saame seega 18. Samakalde interferents tekib, kui paralleelne kiirtekimp (päikesevalgus) langeb tasaparalleelsele plaadile (jääkiht veelombi pinnal). Siis näeme korraga kaht kiirt: ühte, mis peegeldub (jää)kihi ülemiselt ja teist, mis peegeldub alumiselt pinnalt. Kuna teise kiire tee on pikem, hilineb ta faasis võrra. Arvestades, et optiliselt tihedamas keskkonnas kasvab "optiline tee pikkus"
vastab objektiivi pindalale (objektilt vaadatuna) Süsteemi valgusjõud näitab, kuimitu korda on kujutise pind heledam objekti omast. Ta on võrdeline süsteemi suhtelise ava ruuduga. 98 kus on objektiivi raadius ja objekti kaugus objektiivist. Optiline süsteem annab sellest kujutise pindalaga ning heledusega , kusjuures peab olema võrdne eseme poolt objektiivile kiiratud valgusega: Kujutise ja objekti heleduste suhteks saame seega ning, arvestades joonsuurendust Saame Avaldist , kus on objektiivi läbimõõt, nim. süsteemi (objektiivi) suhteliseks avaks. Näeme, et valgusjõud on võrdeline suhtelise ava ruuduga. Aberratsioonid. Geomeetriline optika, nagu teisedki füüsikateooriad, on matemaatiliselt ilus ja lihtne ainult idealiseeritud juhul (õhukesed läätsed, optilise peateljega paralleelsed kiired,
Suuremale nurgale vastab suurem kujutis. Mikroskoop on riist väikeste esemete vaatlemiseks. Mikroskoope võib jaotada optilisteks mikroskoopideks, elektronmikroskoopideks ja teravikmikroskoopideks. Optiline mikroskoop koosneb vähemalt kahest läätsest. Esemepoolset läätse (või läätsede süsteemi) nimetatakse objektiiviks, silmapoolset okulaariks. Mikroskoobi suurendus võrdub objektiivi ja okulaari suurenduste korrutisega. Suurendused on märgitud nii objektiivile kui okulaarile, näiteks: 10 x. Optiliste mikroskoopidega võib saada suurendusi kuni 2000 korda ja eristada detaile, mille mõõtmed on suuremad kui 200 nm. Väiksemate detailide vaatamist segab valguse difraktsioon. Sellepärast kasutatakse suuremate suurenduste ja parema lahutusvõime saamiseks teist tüüpi mikroskoope. Elektronmikroskoobid annavad suurendusi kuni 200 000 korda. Nendes kasutatakse valguse asemel elektronide kimpe (elektronkiiri), millele vastav lainepikkus on palju
annaabi.ee 
