10 punkti
Autor soovib selle materjali allalaadimise eest saada 10 punkti.
~ 1 leht
Lehekülgede arv dokumendis
2009-04-25
Kuupäev, millal dokument üles laeti
1266 laadimist
Kokku alla laetud
15 arvamust
Teiste kasutajate poolt lisatud kommentaarid
imthedevil
Õppematerjali autor
Tallinna Tehnikaülikool Füüsikainstituut Üliõpilane: Natalia Novak Teostatud: Õpperühm: YAMB31 Kaitstud: Töö nr. 21 OT SUHKRULAHUSE ERIPÖÖRANG Töö eesmärk: Töövahendid: Suhkrulahuse eripöörangu määramine. Poolvarju polarimeeter, küvett uuritava suhkru lahusega. Skeem 1. Töö teoreetilised alused 2 2. Töö käik 1. Tutvuge polarimeetri ehitusega ja tema reguleerimisvõimalustega. Määrake polarimeetri ringskaala nooniuse täpsus. 2
20 D 2 lc с l 2 с l suhteline v 5.725395 Suhkrulahuse 0.040 masskontsentratsioon g/cm3 Lahusekihi paksus 2.002 dm Põhiskaala vähima
Tallinna Tehnikaülikooli Füüsika instituut Üliõpilane: Teostatud: Õpperühm: Kaitstud: Töö nr. 12 (optika) OT SUHKRULAHUSE ERIPÖÖRANG Töö eesmärk: Töövahendid: Suhkrulahuse eripöörangu või Poolvarju polerimeeter,analüütilised kaalud, kontsentratsiooni määramine. mensuur,mõõtjoonlaud,suhkur. Skeem 1 2 3 4 5 6 7 8 · 1 lamp · 2 kondensor · 3 valgusfilter · 4 polarisaator
TALLINNA TERVISEHOIU KÕRGKOOL Optomeetria õppetool Üliõpilane: Teostatud : 06.10.2013 Õpperühm: OP 1 Kaitstud: Töö nr. 12 TO: SUHKRULAHUSE ERIPÖÖRANG Töö eesmärk: Suhkrulahuse eripöörangu või Töö vahendid: Poolvarju polarimeeter, kontsentratsiooni määramine analüütilised kaalud, mensuur, mõõtjoonlaud, suhkur Skeem 1 2 3 4 5 6 7 8 1 lamp 2 kondensor 3 valgusfilter 4 polarisaator 5 kvartplaadiga diafragma
Tabel 1. nxi ni xi*ni ni*xi2 ni*(xi-xk)2 2 1 2 4 2512,01 6 1 6 36 2127,05 7 1 7 49 2035,81 12 1 12 144 1609,61 17 1 17 289 1233,41 18 4 72 1296 4656,70 20 1 20 400 1031,69 22 1 22 484 907,21 27 2 54 1458 1262,03 29 1 29 841 534,53 31 1 31 961 446,05 34 1 34 1156 328,33 36 1 36 1296 259,85
TALLINNA TEHNIKAÜLIKOOL Füüsika kateeder Üliõpilane: Teostatud: . Õpperühm: Kaitstud: Töö nr. 1 OT ÜLDMÕÕTMISED Töö eesmärk: Töövahendid: Tutvumine nooniusega. Nihik, kruvik, mõõdetavad esemed Nihiku ja kruviku kasutamine pikkuse mõõtmisel 1. Töö teoreetilised alused 1.1 Noonius. Mõõtmiseks nimetatakse antud füüsikalise suuruse võrdlemist teise sama liiki suurusega, mis on võetud mõõtühikuks. Paljudel mõõteriistadel nagu nihik, kruvik, goniomeeter jne. on mõõteskaalaga paralleelselt liikuvale osale tõmmatud mõõtekriips, mille järgi toimub mõõteriista liikuva osa asukoha määramine. Mõõtekriipsu kokkulangemist mõõteskaala mingi kriipsuga saab fikseerida üsna tä
TALLINNA TEHNIKAÜLIKOOL Füüsika kateeder Üliõpilane: Teostatud: . Õpperühm: Kaitstud: Töö nr. 1 OT ÜLDMÕÕTMISED Töö eesmärk: Töövahendid: Tutvumine nooniusega. Nihik, kruvik, mõõdetavad esemed Nihiku ja kruviku kasutamine pikkuse mõõtmisel 1. Töö teoreetilised alused 1.1 Noonius. Mõõtmiseks nimetatakse antud füüsikalise suuruse võrdlemist teise sama liiki suurusega, mis on võetud mõõtühikuks. Paljudel mõõteriistadel nagu nihik, kruvik, goniomeeter jne. on mõõteskaalaga paralleelselt liikuvale osale tõmmatud mõõtekriips, mille järgi toimub mõõteriista liikuva osa asukoha määramine. Mõõtekriipsu kokkulangemist mõõteskaala mingi kriipsuga saab fikseerida üsna tä
TALLINNA TEHNIKAÜLIKOOL Füüsika instituut Üliõpilane: Taivo Naarits Teostatud: . Õpperühm: EATI - 11 Kaitstud: Töö nr. 1 OT ÜLDMÕÕTMISED Töö eesmärk: Töövahendid: Tutvumine nooniusega. Nihik, kruvik, mõõdetavad esemed Nihiku ja kruviku kasutamine pikkuse mõõtmisel Skeem 1. Töö teoreetilised alused 1.1 Noonius. Mõõtmiseks nimetatakse antud füüsikalise suuruse võrdlemist teise sama liiki suurusega, mis on võetud mõõtühikuks. Paljudel mõõteriistadel nagu nihik, kruvik, goniomeeter jne. on mõõteskaalaga paralleelselt liikuvale osale tõmmatud mõõtekriips, mille järgi toimub mõõteriista liikuva osa asukoha määramine. Mõõtekriipsu kokkulangemist m?
annaabi.ee 
Kõik kommentaarid