Füüsika 2 praktikum 13 (2)

Sarnased õppematerjalid

7

xls

Labor 13

Kondensaatori laadumine U= 20 V I01 = 85 µA I02 = 120 µA Jrk Aeg I (µA) I/I0 ln (I/I0) nr (s) R1 R2 R1 R2 R1 R2 0 85 120 1,00 1,00 0,00 0,00 1 5 80 106 0,94 0,88 -0,06 -0,12 2 10 73 94 0,86 0,78 -0,15 -0,24 3 15 67 84 0,79 0,70 -0,24 -0,36 4 20 62 75 0,73 0,63 -0,32 -0,47 5 25 58 67 0,68 0,56 -0,38 -0,58 6 30 54 61

Füüsika ii

10

xls

Kondensaatori aperioodiline laadumine ja tühjenemine

SUMMARY OUTPUT Regression Statistics Multiple R 0,997117 R Square 0,994242 Adjusted R Square 0,993923 Standard Error 0,050087 Observations 20 ANOVA df SS MS F Significance F Regression 1 7,797748 7,797748 3108,303 1,3E021 Residual 18 0,045156 0,002509 Total 19 7,842905 Coefficients Standard Error t Stat Pvalue Lower 95%Upper 95% Lower 95,0% Upper 95,0% Intercept 0,02403 0,023267 1,03285 0,315351 0,07291 0,024851 0,07291 0,024851 X Variable 10,02166 0,000388 55,7522 1,3E021 0,02247 0,02084 0,02247 0,02084 SUMMARY OUTPUT Regression Statistics Multiple R 0,997434 R Square 0,994874 Adjusted R Square 0,994589 Standard Error 0,040604 Observations 20 ANOVA df SS MS F Si

Füüsika ii

30

xls

Soojusautomaatika

s D(s)=0 -0,01 0,84183255 -0,02 0,6988884 -0,03 0,57050485 -0,04 0,4560192 -0,05 0,35476875 -0,06 0,2660908 -0,07 0,18932265 -0,08 0,1238016 -0,09 0,06886495 -0,1 0,02385 1 -0,11 -0,01190595 -0,12 -0,0390656 0,8 -0,13 -0,05829165 -0,14 -0,0702468 0,6 -0,15 -0,07559375 -0,16 -0,0749952 -0,17 -0,06911385 0,4 -0,18 -0,0586124 -0,19 -0,04415355 0,2 -0,2 -0,0264 -0,21 -0,00601445 0 -0,22 0,0163404 12345678911111 -0,23 0,04000185 -0,2 01234 -0,24 0,0643072 -0,25 0,08859375 -0,26 0,1121988 -0,4 -0,27 0,13445965 -0,28 0,1547136 -0,29 0,17229795 -0,3 0,18655 -0,31 0,19680705 -0,32 0,2024064 -0,33 0,20268535 -0,34 0,1969812 -0,35 0,18463125 -0,36 0,16

Soojusautomaatika

21

xls

Rakendustatistika AGT-1 Excel

# A N 25 xi F0(xi) 1 62 keskväärtus 53,24 77 9 0,09 2 37 dispersioon 705,69 264 15 0,15 3 81 standardhälve 26,56 771 18 0,18 4 54 mediaan 51 1 19 0,19 5 18 haare 85 1242 30 0,30 6 9 1957 32 0,32 7 43 T-qvantiil 1,711 105 33 0,33 8 89 delta mu 9,1 1279 37 0,37 9 19 1172 41 0,41 10 15 keskväärtuse usaldusv.

Rakendusstatistika

27

xlsx

Arvutusgraafiline rakendusstatistika kodutöö exel

i xi N 25 1 71 Keskväärtus 44,12 2 43 Dispersioon 673,44333333 3 56 Standardhälve 25,950786758 4 17 Mediaan 51 5 56 Haare 88 6 9 7 29 8 24 0,1 9 33 t1-/2 0,95 10 4 f (vabadusaste) 24 11 53 12 51 t1-/2(f) (t kvantiil) 1,7109 13 80 (poollaius) 8,8798 14 36 15 54 Keskväärtuse usaldusvah. 16 84 alumine ülemine 17 33

Rakendusstatistika

42

xls

Toiduained

KTUD.RH. küllastatud rasvhapped Toitainete sisaldus tabelis tähendab... C16 palmitiinhape 0 C18 steariinhape ­ MKTA.RH. monoküllastamata rasvhapped PKTA.RH. polüküllastamata rasvhapped C18:2 linoolhape C18:3 linoleenhape VL.KIUDAINED vees lahustuvad kiudained RET.EKV. retinooli ekvivalent NIATS.EKV. niatsiini ekvivalent PANT.HAPE pantoteenhape R% sisaldab x% rasva KLASS E tailiha sisaldus üle 55% KLASS O tailiha sisaldus 40-45% (0.9) söödav osa 90% Sul. sulatatud Rasvas. rasvasusega Toitainete sisaldus tabelis tähendab... vastava toitaine sisaldus antud toiduaines on 0 või minimaalne andmed toitaine sisalduse kohta antud toiduaines puuduvad  ENERGIA (kcal) ENERGIA (kJ)

Kehaline kasvatus

25

xlsx

Rakendusstatistika arvutusgraafiline kodutöö (excel fail)

45,04 Keskväärtus 45 ül4 1 Dispersioon 1167,833 1164,123 intervalli nr vahemik 4 Mediaan 38 1 0-20 6 Haare 97 2 20-40 7 t-statistik -0,706614 3 40-60 10 50 4 60-80 11 5 80-100 12 1,7108820799 15 20 10 Histogra 25 0,4780363352 9 27 0,4168338365 8 33 1,710882 7 38 36,41503 6 46 13,84843 5 52 1164,123 62 34,11925 4 62

Rakendusstatistika

18

xlsx

Metroloogia ja mõõtetehnika Kodutöö

A Osa L - mõõtetulemuse aluseks on mõõteriista näidud L. READ - lugemi võtmine K- kalibreerimistunnistuse (ümardamine parand lähima täisjaotiseväärtuse ni) PAR - mõõteliinide paralleelsus RECT - ristseis RS - baaspinna asend F - mõõtejõud T ­ temperatuur RO ­ pinnakaredus MAT ­ materjal RE - mõõtmiste vähesed kordused Mudel üldkujul: - pinna hälve sirgjoonelisusest, STR = f(mõõtevahendi näit,Lmin; f(faktorid)= f(Lmax­ faktorid) K; READ, PAR, RECT, RS, F; T, hälve RO, RE) pindade paralleelsusest, PAR = f(mõõtevahendi näit, faktorid), PAR = f(faktorid)=f(PAR, RECT, RS, RO) rakis SYM =+f(faktorid)=f(READ, PAR, RECT, indikaatorkell, täpsustase 1 µm RS) + pikkusplaat sobib ideaalselt. Cp 1 B 18 H 11 L 180

Metroloogia ja mõõtetehnika

Meedia

Kommentaarid (2)