Võrekonstant -(d) iseloomustab võret ja on kaugus kahe naaberpilu keskpunktide vahel. 56. Mis on difraktogramm? Väike kristall paigutatakse paralleelsete röntgenikiirte teele ja asetatakse tasapinnaline film teisele poole, kuhu tekib pilt. Viimast nimetataksegi difraktogrammiks. 57. Mida uuritakse difraktogrammide abil? Iga aine omab ainult talle iseloomulikku võrekonstandi väärtust ja reflekside intensiivsuste omavahelist suhet, mille saabki antud uuringul difraktogrammil välja lugeda. Difraktogrammi järgi tehakse kindlaks uuritav materjal ja eksist vorm (kas tegemist on amorfse-, kristallilise aine või nende seguga; millised kristallained on uuritavas proovis; on võimalik määrata võre parameetrid a,b,c.) 58. Mis on ideaalne kristall? Ideaalsed kristallid esindavad ideaalset korrapära. Kristallid on aga väga harva ideaalsed, ilma defektideta. Nad sisaldavad deformeeritud võre alasid, ja võre kokkuliitumise defekte. 59
Kui tegemist on tahke ainega (tükk), siis lihvitakse pealt ja liimitakse prep-hoidjasse. Proov võib olla paigal või pöörelda. Kui paigal, siis võivad esieneda moonutused. Pöörlev elimineerib moonutused. Tavaliselt on proov vertikaalasendis, harva horisontaalis. Difraktogramm preparaadilt peegeldunud rönkgenkiirte üleskirjutus nurga funktsioonina. Mida lihtsam kristallvõre, seda vähem on difraktogrammil reflekse (tippe e biite). Igal ainel on talle iseloomulik d-väärtuste komplekt (nagu sõrmejäljed). 9 d väärtust. Difraktogrammil on d väärtuste ja reflekside intensiivsuse suhe. NB! Betoonides, lubi- ja tsement-mörtides, krohvides on CaOH kogus võimalik määrata ainult röntgenfaasianalüüsiga. Difraktogrammide interpretee- rimine a) vastavalt refleksidele; b) määratakse kõikide reflekside suhtelised kõrgused põhirefleksi suhtes;
Kasutatav seade koosneb röntgentorust, preparaadist ja registraatorist, mis võib olla nii elektrooniline kui mehhaaniline. b. Analüüsitavad ained peavad neelama või kiirgama elektromagnetkiirgust. Preparaat ehk proov on üldjuhul pulbri kujul (osakese suurus 10-15 mm), kuid võimalik on kasutada ka lihvitud pindu. Viimase korral esineb aga häireid difraktogrammil. c. Difraktogramm peegeldunud kiirte üleskirjutus, millelt saab lugeda osakesi ühendavate tasandite vahekaugusi, mis avalduvad refleksidena. Difraktogrammi abil on võimalik määrata, kas tegemist on amorfse või kristalse ainega, kristalse aine korral saab täpsemalt määrata kristalli struktuuri (mida vähem reflekse, seda lihtsam struktuur). Ühtlasi on
kermiste paagutamisel ( joon.14). Analoogsed protsessid toimuvad ka WC-Co ja Cr3C2 - Ni kermiste paagutamisel. o Temperatuurivahemikus 750 - 1150 C toimub Mo aatomite difusioon titaankarbiidi. Selle tulemusena tekib kaksikkarbiid (Ti,Mo)C titaankarbiidi vôre o baasil. 1280 C juures algab eutektikumi sulamine eelkôige TiC osakeste ümber. Ni jooned difraktogrammil kitsenevad, intensiivistuvad ja asuvad endisesse asendisse. See näitab, et osa niklis lahustunud molübdeeni aatomeid on sadestunud titaankarbiidi 31 teradele. Sellel perioodil toimub intensiivne karbiiditerade ja kasv. Niklit sideainena kasutatakse TiC kermiste koostisosana. Sula nikkel moodustab o
kristalli ühikraku mõõtmed ja difr-nud kiirguse intensiivsuse jaotust analüüsides, sellel paiknevate aatomite koordinaadid. Fourieri meetod annab ühikrakus olevate aatomite elektronide tiheduse jaotuse, mille max ühtivad aatomite paigutusega. RFanalüüsi kasut ainete eksisteerimisvormi kindlaks tegemisel (kristalne, amorfne, nende segu). Iga aine omab ainult talle iseloomulikku ,,d" väärtust ja reflekside intensiivsuste omavahelist suhet, mille saabki antud uuringul difraktogrammil välja lugeda. Difraktogrammi järgi tehakse kindlaks uuritav materjal ja eksist vorm. Saadav info: 1)kas tegemist on amorfse-, kristallilise aine või nende seguga 6-8ainet; 2)millised kristallained on uuritavas proovis; 3)on võimalik määrata võre parameetrid a,b,c. Analüüsi ettevalmistatud proov (preparaat) on: 1)pulbriline - pressitakse proovihoidjasse (osakeste suurus ø<5µm, 20-2000mg 2)lihvitud pinnaga aine või materjal - liimiga. Difraktogramm on