2 samas aatomis paiknevat elektroni ei saa olla samas kvantolekus, st kui erinevate elektronide kvantarvud on samad, siis omavad need elektronid vastupidist spinni. Elementide keemilised/füüsikalised omadused sõltuvad elektronide arvust väliskihil. Elektronkatte kihte tähistatakse s,p,d,f ja g. Elektronmikroskoobis kasutatakse valgusvihkude asemel elektronkimpu ehk kiirete elektronide voogu. Pilt tehakse nähtavaks luminestseerival ekraanil või jäädvustatakse fotoplaadile. See on parem kui tavaline valgusmikroskoop, sest see suurendab objekte sadu kordi rohkem. Potentsiaalibarjäär: ruumipiirkond, milles osakese potentsiaalne energia on suurem kui tema koguenergia, mikromaailmas on need nt elektriväljad. Potentsiaaliauk: potentsiaalibarjääriga ümbritsetud ruumipiirkond, milles osakese potentsiaalne energia on väiksem kui tema koguenergia nt kaev, kus ergastatud lained peegelduvad kaevu seintelt ja
ilmnevad ka aatomite ja molekulide jugades. Difraktsioonipilt vastab lainepikkusele, mis on määratud avaldisega: kus h on jagatud 2 . Mikroosakeste juga tekitab difraktsioonipildi, mis sarnaneb tasalaine poolt tekitatud difraktsiooni- pildiga: Joonis 33 Elektronide difraktsioon. ( Saveljev 1979, 239 ). Järgmistelt joonistelt on näha kaksikpilu-inteferentsipilti, mille annab kaksikpilu läbinud elekt- ronkimp luminestseerival ekraanil või fotoplaadil. Võrdluseks on see kõrvutatud valguse kaksikpi- lu-inteferentsipildiga. On näha väga suurt sarnasust. 88 Joonis 34 Elektronide ja footonite inteferents. Uurime lähemalt elektronide interferentsikatset, mille korral kasutatakse ainult kahte ava. Elektroni ekraanile jõudmise tõenäosusamplituud ( mingisse punkti X ) on vastavalt 1=2 ja 2=6. Ühikud on valdavalt suhtelised
ka aatomite ja molekulide jugades. Difraktsioonipilt vastab lainepikkusele, mis on määratud avaldi- sega: kus h on jagatud 2 . Mikroosakeste juga tekitab difraktsioonipildi, mis sarnaneb tasalaine poolt tekitatud difraktsiooni- pildiga: 91 Joonis 35 Elektronide difraktsioon. ( Saveljev 1979, 239 ). Järgmistelt joonistelt on näha kaksikpilu-inteferentsipilti, mille annab kaksikpilu läbinud elekt- ronkimp luminestseerival ekraanil või fotoplaadil. Võrdluseks on see kõrvutatud valguse kaksikpi- lu-inteferentsipildiga. On näha väga suurt sarnasust. Joonis 36 Elektronide ja footonite inteferents. Kuid vaatame lähemalt nende elektronide interferentsikatset, mille korral kasutatakse ainult kahte ava. Elektroni ekraanile jõudmise tõenäosusamplituud ( mingisse punkti X ) on vastavalt 1=2 ja 2=6. Ühikud on valdavalt suhtelised
ilmnevad ka aatomite ja molekulide jugades. Difraktsioonipilt vastab lainepikkusele, mis on määratud avaldisega: kus h on jagatud 2 π . Mikroosakeste juga tekitab difraktsioonipildi, mis sarnaneb tasalaine poolt tekitatud difraktsiooni- pildiga: Joonis 35 Elektronide difraktsioon. ( Saveljev 1979, 239 ). Järgmistelt joonistelt on näha kaksikpilu-inteferentsipilti, mille annab kaksikpilu läbinud elekt- ronkimp luminestseerival ekraanil või fotoplaadil. Võrdluseks on see kõrvutatud valguse kaksikpi- lu-inteferentsipildiga. On näha väga suurt sarnasust. 93 Joonis 36 Elektronide ja footonite inteferents. Uurime lähemalt elektronide interferentsikatset, mille korral kasutatakse ainult kahte ava. Elektroni ekraanile jõudmise tõenäosusamplituud ( mingisse punkti X ) on vastavalt φ1=2 ja φ2=6. Ühikud on valdavalt suhtelised
annaabi.ee 
