saab vähendada materjalivalikuga või raami paksuse suurendamisega. 29. Millised on projekteerija ülesanded piirdetarindite ehitusfüüsikalise projekteerimise juures? Tema ülesanne on projekteerida piirdetarindid nii, et vältida nendes niiskutehnilisi probleeme, näiteks hallituse tekkimine ja veeauru kondenseerumine. On ka veel energiatõhususe arvestamine. 30. Seleta lahti mõisted ,,soojusvoog" ja ,,soojusvool"? Tähised, ühikud. Standardis EVS 908-1:2010 31. Mida kirjeldab Foureri seadus? Selgita valemiga. Foureri seadus kirjeldab soojusvoolu tihedust, mis sõltub soojuserijuhtivusest ja temperatuurigradiendist q = -k T qx = -k dT/dx 32. Mitu Celsiuse kraadi on 253 Kelvinit? -20,15°C 33. Mida iseloomustab sümbol d W/(mK)? Kuidas seda määratakse? Standardis EVS 908-1:2010 34. Mida iseloomustab sümbol D W/(mK)? Kuidas seda määratakse? Standardis EVS 908-1:2010 35
saab vähendada materjalivalikuga või raami paksuse suurendamisega. 29. Millised on projekteerija ülesanded piirdetarindite ehitusfüüsikalise projekteerimise juures? Tema ülesanne on projekteerida piirdetarindid nii, et vältida nendes niiskutehnilisi probleeme, näiteks hallituse tekkimine ja veeauru kondenseerumine. On ka veel energiatõhususe arvestamine. 30. Seleta lahti mõisted „soojusvoog“ ja „soojusvool“? Tähised, ühikud. Standardis EVS 908-1:2010 31. Mida kirjeldab Foureri seadus? Selgita valemiga. Foureri seadus kirjeldab soojusvoolu tihedust, mis sõltub soojuserijuhtivusest ja temperatuurigradiendist q = -k ∙ ΔT qx = -k ∙ dT/dx 32. Mitu Celsiuse kraadi on 253 Kelvinit? -20,16°C 33. Mida iseloomustab sümbol λd W/(mK)? Kuidas seda määratakse? Standardis EVS 908-1:2010 34. Mida iseloomustab sümbol λD W/(mK)? Kuidas seda määratakse? Standardis EVS 908-1:2010 35
kristallilised ained on pulbris, röntgenanalüüs 19) Röntgenfaasianalüüsi printsiip analüüs, mis põhineb röntgenkiirguse difraktsioonil. Difraktsiooni pilt jäädvustatakse röntgennogrammina ja kantakse isekirjuti lindile või salvestatakse numbriliselt arvuti mällu. Pildil olevate difraktsioonide maksimumide asukoha järgi tehakse kindlaks kristalli ühikraku mõõtmed ja difrageerunud kiirguse intensiivsuse jaotust analüüsides sellel paiknevate aatomite koordinaadid. Foureri meetodil annavad ühikrakus olevate aatomite elektronide tiheduse jaotuse, mille max-d ühtivad aatomite paigutusega. Faas aine (siinkohal); ühtlane piirpindadega eraldatud süsteemi osa. Faas on heterogeense süsteemi üks homogeennne osa. Faasid võivad erineda üksteisest füüsikalise oleku, keemilise koostise või struktuuri poolest s.t et faaside vahel on piirpinnad. Röntgenfaasi analüüsiga on võimalil kindlaks teha: *kas tegemist on
Rõhu mõju rõhk ei mõjuta tahkeid aineid. 17) Röntgenfaasianalüüsi printsiip analüüs, mis põhineb röntgenkiirguse difraktsioonil. Difraktsiooni pilt jäädvustatakse röntgennogrammina ja kantakse isekirjuti lindile või salvestatakse numbriliselt arvuti mällu. Pildil olevate difraktsioonide maksimumide asukoha järgi tehakse kindlaks kristalli ühikraku mõõtmed ja difrageerunud kiirguse intensiivsuse jaotust analüüsides sellel paiknevate aatomite koordinaadid. Foureri meetodil annavad ühikrakus olevate aatomite elektronide tiheduse jaotuse, mille max-d ühtivad aatomite paigutusega. Faas aine (siinkohal); ühtlane piirpindadega eraldatud süsteemi osa. Faas on heterogeense süsteemi üks homogeennne osa. Faasid võivad erineda üksteisest füüsikalise oleku, keemilise koostise või struktuuri poolest s.t et faaside vahel on piirpinnad. Röntgenfaasi
annaabi.ee 
