10. Mis on liikumine? Kuidas saab liikumist mitmel viisil kirjeldada? Liikumine on keha või selle punkti asukoha muutus ruumis. Liikumist saab kirleldada: a) trajektoori kuju järgi b) suuruse järgi (teepikkus ja nihe, taustasüsteem ja aeg) 11. Mille poolest erineb pöörlemine tiirlemisest? Tiirlemine on keha perioodiline kulgliikumine ümber telje või punkti. Pöörlemine on keha ainepunktide ringliikumine ümber kehaga seotud kahe ainepunkti. 12. Riistavead on a) Mõõtevahendi kaliibrimisel kasutatud etalonide määramatused b) Mõõteprotsessis vajalike konstantide ja parameetrite väärtuste ebatäpsus c) Mõõdetava suuruse väärtus on muutlik d) Väike tundlikkus. e) Keskkonnatingimuste mõjud f) Piiratud lahutusvõime 13) Mõõtetulemuse esitamine a) mõõtesuurus = x ± x × mõõtühik b) mõõtesuurus = (x ± x) × mõõtühik c) mõõtesuurus = x ± (x × mõõtühik) d) mõõtesuurus = (x ± x)
SI süsteem: Pikkusühik – 1 meeter (m) Massiühik – 1 kilogramm (kg) Ajaühik – 1 sekund (s) Voolutugevuse ühik – 1 amper (A) Temperatuuri ühik – 1 kelvin (K) Ainehulga ühik – 1 mool (mol) Valgustugevuse ühik – 1 kandela (cd) Mõõtemääramatus: Mõõtmistulemusega seotud suurus, mis määrab mõõdetava suuruse vahemiku, kuhu selle tõeline väärtus satub Mõõtemääramatuse allikad: Riistavead Protseduurivead Mõõdetava suuruse muutlikkusest tingitud vead Süstemaatiline viga Juhuslik viga Vead andmetes: ρz Mõõdeti valet objekti Mõõdeti objekti valesid tunnuseid Mõõteinstrumendi viga Mõõtmisprotsessi viga
anduri väljundis tekib elektrisignaali muutus, mis on seotud anduri parameetriliste suuruste (elektritakistus, -mahtuvus või induktiivsus) muutusega. Andurite ja füüsikaliste suuruste klassifitseerimisel aktiivseteks ja passiivseteks näeme, et aktiivsete suuruste mõõtmiseks kasutatakse passiivseid andureid ning passiivsete suuruste mõõtmiseks aktiivseid andureid. 3. Mõõteseadme mõõtevigade klassifikatsioon Metoodilised ja riistavead. Riistavead tekivad mõõteseadme või selle osade ebapiisava kvaliteedi tõttu. Näiteks indikatsiooniseadme osuti laagrites tekib hõõrdetakistuse tõttu lisajõud, mis mõjutab osuti asendit. Vastastikuse mõju vead. Seda liiki vead tekivad mõõteseadme, mõõteobjekti ja eksperimentaatori vastastikusest mõjust mõõtmiste käigus. Näiteks pinge mõõtmisel voltmeetri abil peab voltmeetri sisetakistus olema väga suur võrreldes mõõdetava ahela takistusega. Põhi- ja lisavead
süstemaatilist viga arvestav parandustegur. Üldjuhul on parandatud tulemus esitatav kujul ~ x Q x q. Nihkes skaalaga seadmete kasutamiseks lisatakse taatlemisel seadme dokumentatsioonile parandite tabel, kust saab leida vajaliku väärtuse parandi (või parandusteguri) jaoks. 2. Efektid, millede põhjused on teada, kuid suurused mitte. Siia alla käivad kõik riistavead. Need on põhjustatud ebatäpsest gradueerimisest. Sellist süstemaatilist viga saab vähendada, kui kontrollime mõõteriista mõne teise tunduvalt täpsema mõõteriistaga ja koostame vastava parandite tabeli. 3. Efektid, millede olemasolu on meile teadmata. Sellised efektid võivad esineda juhtudel, kui kasutatakse uut mõõtmismeetodit või kui on tegemist äärmiselt keeruliste mõõtmistega.
annaabi.ee 
