on täisarvud: n1 on igas seerias konstantne täisarv ja n2 = n1 + 1, n1 + 2, n1 + 3... 3.Kuidas tekib lainete interferentspilt? Interferentsi tekkimiseks peavad lained olema sama sagedusega ning võnkumisfaaside erinevus ei tohi muutuda. Teisitiöeldult -- erinevate lainete allikad peavad võnkuma muutumatult ühtmoodi. Sagedused peavad olema võrdsed ja ühe allika võnkumine ei tohi teise suhtes muutuda. 4.Mis ,,lainetab" elektronlaines? Vastuse annab teisendatud kaksikpilukatse. Selles vähendati elektronkimbu tihedust niivõrd, et elektronid läbivad pilu ühekaupa vähendades sedavõrd elektrone kiirgava hõõgkatoodi temperatuuri. Katse tulemuseks on fotojada. Järjestikustel kaadritel näeme järjest suurema arvu üksikelektronide tabamustäpikesi tajur-plaadil. 5.Mis on ,,leiulaine"? Leiulaine - osakese leiutõenäosus antud punktis ja antud ajahetkel. 6.Kirjelda katset ,,Schrödingeri kassiga".
kus on kiirguse sagedus, En aatomi algoleku energia En' aatomi lõppoleku energia. Kui En > En', siis aatom kiirgab, vastupidisel juhul neelab. 6. Elektroni difraktsioonikatse järeldused Mikroosakeste lainelised omadused ilmnevad interferentsis ja difraktsioonis. Elektronlained on olemas. Kui elektronlained muunduvad seisulaineiks aatomis, siis peavad nad olema väga lühikesed, aatomi mõõtmetele (10-10 m) lähedase pikkusega. Elektronide kaksikpilukatse sai võimalikuks hiljuti, kaasaegseelektronmikroskoopia võtteid kaasates. Kui ilmneb interferents, peab olema ka difraktsioon tõkete taha paindunud lainete interferents. Elektronlained avastatigi esmalt difraktsioonkatsetes. Sobivaiks, vajalikuks väikese võre konstandiga difraktsioonivõredeks osutusid kristallid, mida eelnevalt uuriti röntgnkiirtega. Elektronide difraktsioon avastati juhuslikult, tänu katse käigus juhtunud äpardusele (vaakumseadme leke).