Fraktsioonilise koostise määramine osakeste suuruse järgi: sõelumise, mikroskoopia (mikroskoobi all loetakse üle osakeste arv vastavas suuruse vahemikus) ja sedimentatsiooni (settimiskiiruse järgi vedelikus) abil. Faasikoostise määramisel määratakse ära, millised kristallilised ained on pulbris, röntgenanalüüs 19) Röntgenfaasianalüüsi printsiip analüüs, mis põhineb röntgenkiirguse difraktsioonil. Difraktsiooni pilt jäädvustatakse röntgennogrammina ja kantakse isekirjuti lindile või salvestatakse numbriliselt arvuti mällu. Pildil olevate difraktsioonide maksimumide asukoha järgi tehakse kindlaks kristalli ühikraku mõõtmed ja difrageerunud kiirguse intensiivsuse jaotust analüüsides sellel paiknevate aatomite koordinaadid. Foureri meetodil annavad ühikrakus olevate aatomite elektronide tiheduse jaotuse, mille max-d ühtivad aatomite paigutusega. Faas aine (siinkohal); ühtlane piirpindadega eraldatud süsteemi osa
Aine osakeste suurus 0,1µm Temp mõju temp tõstmisel osad tahked ained: *lähevad üle vedelasse ja gaasilisse olekusse; *ainult vedelasse olekusse; *ei saa üle viia vedelasse ega gaasilisse olekusse, sest nad lagunevad kaheks või enamaks muuks aineks. Rõhu mõju rõhk ei mõjuta tahkeid aineid. 17) Röntgenfaasianalüüsi printsiip analüüs, mis põhineb röntgenkiirguse difraktsioonil. Difraktsiooni pilt jäädvustatakse röntgennogrammina ja kantakse isekirjuti lindile või salvestatakse numbriliselt arvuti mällu. Pildil olevate difraktsioonide maksimumide asukoha järgi tehakse kindlaks kristalli ühikraku mõõtmed ja difrageerunud kiirguse intensiivsuse jaotust analüüsides sellel paiknevate aatomite koordinaadid. Foureri meetodil annavad ühikrakus olevate aatomite elektronide tiheduse jaotuse, mille max-d ühtivad aatomite paigutusega. Faas aine (siinkohal); ühtlane piirpindadega eraldatud süsteemi osa
annaabi.ee 
