väljuvatest kiirtest vähemalt kahte järgmisest kolmest: optilise teljega paralleelset kiirt, mis pärast läätse läbimist läheb läbi fookuse; fookust läbivat kiirt, mis pärast läätse läbimist on optilise teljega paralleelne; läätse keskpunkti O läbivat kiirt, mis pärast läätse läbimist suunda ei muuda. Kujutise konstrueerimine nõgusläätse korral. AB ese, A1B1 näiv kujutis. Tekib ebakujutis. Kiirte pikendused koondudes moodustavad ebakujutise. Nõguslääts hajutab valguskiiri. Kujutise konstrueerimiseks kasutatakse esemest väljuvatest kiirtest vähemalt kahte järgmisest kolmest: optilise peateljega paralleelset kiirt, mis pärast läätse läbimist läheb edasi nii, et selle pikendus läheb läbi näiva fookuse; tagumisse näivasse fookusse F1 suunatud kiirt, mis pärast läätse läbimist on optilise teljega paralleelne;
Seejuures saadakse suurendatud, päripidine ebakujutis. Pikksilma suurenduse hindamise lihtsustatud skeem 3. Mikroskoobi suurenduse määramine Mikroskoopikasutatakse lähedaste, kuid väikeste esemete vaatlemiseks. Mikroskoop nagu pikksilmgi, koosneb tavaliselt kahest läätsede süsteemist: objektiivist ja okulaarist. Mikroskoobi objektiivi ülesandeks on tekitada uuritavast esemest võimalikult suur kujutis. Ebakujutise saamine mikroskoobis TÖÖ KÄIK A) Silma minimaalse vaatenurga määramine 1. Joonestage paberile kõrvuti kaks väikest ristkülikut ca 1mm kaugusele teineteisest. 2. Kinnitage paber silmade kõrgusele ja eemalduge temast suurima kauguseni, mille korral näete ristkülikuid veel valge ribaga eraldatuina. 3. Mõõtke kaugused. 4. Arvutage silma minimaalne vaatenurk valemi (1) abil. Hinnake tulemuse viga.
vaadeldakse okulaariga kui luubiga. Seejuures saadakse suurendatud, päripidine ebakujutis. Pikksilma suurenduse hindamise lihtsustatud skeem 3. Mikroskoobi suurenduse määramine Mikroskoopikasutatakse lähedaste, kuid väikeste esemete vaatlemiseks. Mikroskoop nagu pikksilmgi, koosneb tavaliselt kahest läätsede süsteemist: objektiivist ja okulaarist. Mikroskoobi objektiivi ülesandeks on tekitada uuritavast esemest võimalikult suur kujutis. Ebakujutise saamine mikroskoobis TÖÖ KÄIK Küsige juhendajalt täpne tööülesanne ja töö teostamiseks vajalikud vahendid A) Silma minimaalse vaatenurga määramine 1. Joonestage paberile kõrvuti kaks väikest ristkülikust ca 1mm kaugusele teineteisest. 2. Kinnitage paber silmade kõrgusele ja eemalduge temast suurima kauguseni, mille korral näete ristkülikuid veel valge ribaga eraldatuina. Korrake sama lähenedes
lähtepunkti ebakujutis. Joonised kujutavad punktis A asuvat punktvalgusallikat, mille kujutis tekib punktis B. Esimesel joonisel on punktvalgusallika kujutise tekitamine koondava läätse abil, teisel ebakujutise tekitamine hajutava läätse abil. Mingi punkti A kui originaali kujutise asukoha määramiseks tuleb leida punkt, kus koonduvad originaalist lähtuvad kiired. Et punkti saab üheselt määrata kahe kiire lõikumisega, siis piisab kujutise konstrueerimiseks kahe originaalist lähtunud kiire käigu teadmisest.
-- infot kandvaks signaalikiireks ning häirimata laservalguse tugikiireks -- ning salvestatakse nende ühinemisel tekkiv interferentsipilt. Sellise interferomeetrilise salvestuse põhiomaduseks on see, et kui seda salvestust valgustada lugemiskiirega, difrageerub lugemiskiir osaliselt signaalikiire nõrgaks 15 koopiaks. Kui signaalikiir saadi näiteks valgustades ruumilist objekti, siis hologrammi heiastamine tekitab objekti ebakujutise hologrammi taha. Kui hologramm on salvestatud õhukesele materjalile (materjali paksus on samas suurusjärgus interferentsimustri keskmise perioodiga), võib lugemiskiir veidi erineda salvestusel kasutatud tugikiirest, kuid stseen ilmuks siiski. Kui hologramm salvestatakse paksule materjalile, siis see valguse hulk, mis lugemiskiirest difrageerub signaalikiire sihis (difraktsiooni tõhusus), sõltub lugemiskiire ning algse tugikiire sarnasusest
annaabi.ee 
