Bouguer-Lambert-Beeri seadus Lahuses neeldunud valguse intensiivsus on eksponentsiaalses sõltuvuses valgust neelava aine kontsentratsioonist ja valgust neelava kihi paksusest. Valguse neeldumist teatud aine lahuses iseloomustab lahuse optiline tihedus (D) ehk absorbtsioon (A). A=log I0/I, kus I0- lahusele langeva valguse intensiivsus; I- lahust läbinud valguse intensiivsus. Lambert-Beeri seadus : A= εCl, kus A- lahuse optiline tihedus (D) ehk absorbtsioon, ε- absorbtsioonikoefitsient ehk molaarne neeldumistegur, mis sõltub lahuse iseloomust, temperatuurist, valguse lainepikkusest ja valgust neelava aine iseloomust, ühik M-1cm-1, C-lahuse molaarne kontsentratsioon, l- lahusekihi paksus (cm). Kasutades Lambert-Beer'i seadust on lahuse absorbtsioon (optilise tiheduse) abil võimalik määrata aine kontsentratsioon lahuses. suhet I/I0 nimetatakse läbilaskvuseks (T) -εcl A=log 1/T T=I/I0 I=I0*10 C=A/ ε*l
Bouguer-Lambert-Beeri seadus Lahuses neeldunud valguse intensiivsus on eksponentsiaalses sõltuvuses valgust neelava aine kontsentratsioonist ja valgust neelava kihi paksusest. Valguse neeldumist teatud aine lahuses iseloomustab lahuse optiline tihedus (D) ehk absorbtsioon (A). A=log I0/I, kus I0- lahusele langeva valguse intensiivsus; I- lahust läbinud valguse intensiivsus. Lambert-Beeri seadus : A= Cl, kus A- lahuse optiline tihedus (D) ehk absorbtsioon, - absorbtsioonikoefitsient ehk molaarne neeldumistegur, mis sõltub lahuse iseloomust, temperatuurist, valguse lainepikkusest ja valgust neelava aine iseloomust, ühik M-1cm-1, C-lahuse molaarne kontsentratsioon, l- lahusekihi paksus (cm). Kasutades Lambert-Beer'i seadust on lahuse absorbtsioon (optilise tiheduse) abil võimalik määrata aine kontsentratsioon lahuses. suhet I/I0 nimetatakse läbilaskvuseks (T) -cl A=log 1/T T=I/I0 I=I0*10 C=A/ *l
ruumala. On selge, et see on ala, millest väljunud röntgenkvandid registreeriti loendis. See sõltub, kui sügavale tungib elektronkiir objekti ning kui tugevalt neelduvad röntgenkiired väljumisel ainest. Järelikult faktoreid, mis mõjutavad analüüsitava ala suurust on palju. Nendest tähtsamad on: - elektronkiire energia; - röntgenkvantide väljumise ruumala (ergastusruumi) keskmine tihedus; - röntgenkiirte lainepikkuses; - röntgenkiirte absorbtsioonikoefitsient; - elektronkiirte langemisnurk objektile.; - jne. Teine raskesti määratav asjaolu on see, et kuigi elektronkiir tungib objekti teatud sügavusse, ei ole väljuvate röntgenvantide jaotus sugugi ühtlane. Tõenäoliselt tuleb pinnakihi lähedalt rohkem kvante kui objekti sügavusest, kus nad osaliselt neelduvad oma teel välja. Analüüsi tulemused ei iseloomusta analüüsitavat ala ühtlaselt. 51. Milline on elemendi avastamise piir EDS analüüsil?