4)ergastava kiirguse lainepikkusest Emissioonispekter (tekkinud kiirguse specter) on alati suurema lainepikkusega kui ergastusspekter. Tavaliselt 50-100 nm võrra pikem. Spektri iseloom on iseloomulikud igale individuaalsele ainele. Juhul, kui aine ei ole fluorestseeruv, või seda muutuda fluor-vaks, moodustades derivaadi mõne teise ainega. Spektrofluoromeeter. Tööpõhimõte: valgus elavhõbekvartslambilt (kiirgab valgust teatud lainepikkustel 365nm) või ksenoonlambilt (kiirgab pidevspektrit) läbib esimese monokromaatori (difraktsioonivõre/valgusfilter) ning pilu ja langeb küvetile uuritava lahusega. Tekkinud fluor-kiirgus läbib sekundaarse monokromaatorit ja pilu ning langeb valgustundlikule elemendile, mis registreerub intensiivsuse. Tavaliselt valgustundlik element on valgusallika ja küveti suhtes 90o nurga all, et vältida erg.kiirguse sattumist fotoelemendile. Tulemus esitatakse protsentides.
[8][10] Läätse valmistamisel on kasutatud vahelduvaid kvartsi pinnale kasvatatudalumiiniumoksiidi ja hõbeda kihte paksusega 35nm. Superläätse pealispind on kaetud kroomiga, mille sisse on lõigatud soovitud muster, mis on uuritavaks objektiks. Eksperimendis on valitud objektiks jooned läbimõõduga 35nm ja vahekaugusega 150nm(vt Joonis 6B). Lõigatud aukude kujutiste tekitamisel kasutatakse lainepikkust 365nm. Valgus levib aukudest metamaterjali ning lõigete suurendatud kujutised tekivad radiaalsihis läätse pinnal. Kui kujutised on saanud suuremaks difraktsiooni piirist, siis on neid võimalik edasi suurendada, kasutades tavalist optilist mikroskoopi. Joonis 6C kujutab graafiliselt koordinaadist sõltuvat intensiivsuse jaotust nii superläätsega kui ilma selleta. Difraktsiooni tõttu pole ainult mikroskoobiga võimalik neid kujutisi eristada. Demonstreeritud optiline superlääts
annaabi.ee 
