"transmissioonelektronmikroskoopia" - 1 õppematerjal

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT

doomenstruktuuri avastamine ferromagneetikutes, kristallograafilise orientatsiooni hindamine 2 4m kuni 104m suurustel kristallidel, erineva aatominumbriga teise faasi eraldamine söövitamata pinnal.  · Sobiv seade pooljuhttööstuses materjalikontrolliks 20. Millised on SEM lähedased tehnikad? Röntgendifraktsiooon, Valgusmikroskoopia, STEM (skaneeriv transmissionelektronmikroskoopia), TEM (transmissioonelektronmikroskoopia) 21.Millised on SEM objektid? Mistahes tahke aine või vedelik jääkaururõhuga (10-3 torri). Suurus sõltub konkreetsest mikroskoobist, tavaliselt 15-20mm, vaadeldav ala 4-8 mm. Millised on SEM piirangud? 22. · Metallograafiliselt prepareeritud tasapinnaliste objektide pinna kujutis suurendustel 300-400 x on informatsioonivaesem kui valgusmikroskoobis. · Lahutusvõime on väiksem kui TEM ja AEM. 23