Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT
· Peegeldunud elektronide reziimis söövitamata objekti terade piirjoonte uurimine,
doomenstruktuuri avastamine ferromagneetikutes, kristallograafilise orientatsiooni
hindamine 2 4m kuni 104m suurustel kristallidel, erineva aatominumbriga teise faasi
eraldamine söövitamata pinnal.
· Sobiv seade pooljuhttööstuses materjalikontrolliks
20. Millised on SEM lähedased tehnikad?
Röntgendifraktsiooon, Valgusmikroskoopia, STEM (skaneeriv
transmissionelektronmikroskoopia), TEM (transmissioonelektronmikroskoopia)
21.Millised on SEM objektid?
Mistahes tahke aine või vedelik jääkaururõhuga (10-3 torri).
Suurus sõltub konkreetsest mikroskoobist, tavaliselt 15-20mm, vaadeldav ala 4-8 mm.
Millised on SEM piirangud?
22.
· Metallograafiliselt prepareeritud tasapinnaliste objektide pinna kujutis suurendustel
300-400 x on informatsioonivaesem kui valgusmikroskoobis.
· Lahutusvõime on väiksem kui TEM ja AEM.
23
annaabi.ee 
