Vajad kellegagi rääkida?
Küsi julgelt abi LasteAbi
Logi sisse
Sulge

"tetsimise" - 4 õppematerjali

Arvutid 2017 Kospekt
33
docx

Arvutid 2017 Kospekt

testi tulemustest (Adaptive testing). Milline on testimise kiirus: *Normaalsest tööökiirusest aeglasemalt (Static testing)*Töökiirusel (At-speed testing). Mida jälgitakse: *Kõiki väljundkombinatsioone *Funktsiooni väljundkombinatsioonidest (Compakt tetsing). Milistele objekti punktidele on ligipääs: *Ainult sisenditele/väljunditele. (Edge-pin testing)*Sisenditele/väljunditele lisaks ka sisemistele punktidele. (In-circuit tetsing, Bed- of-nails testing, ...) Kes kontrollib tetsimise tulemusi: *Süsteem ise (Self-testing, Self-cheking)*Väline seade- tester. (External testing).objekt, test ja etalon.testinfo esitus.rikkemudelid. konstant 0 ja konstant 1 rike ( stuck-at-0 and stuck-at-1 faults, s-a-0 and s-a-1), lühised (Bridges),ühekordsed ja mitmekordsed rikked,testide genereerimine (Test Pattern Generation),kattev testimine (Exhaustive Testing),juhuslik testimine (Random Testing), pseude juhuslik testimine (Pseudo Random Testing),testide genereerimine determineeritud

Informaatika → Arvutid
27 allalaadimist
Arvutid I eksami materjal
76
doc

Arvutid I eksami materjal

· Töökiirusel (At-speed testing) Mida jälgitakse : · Kõiki väljundkombinatsioone · Funktsiooni väljundkombinatsioonidest (Compakt tetsing) Milistele objekti punktidele on ligipääs : · Ainult sisenditele/väljunditele. (Edge-pin testing) · Sisenditele/väljunditele lisaks ka sisemistele punktidele. (In-circuit tetsing, Bed-of-nails testing, ...) Kes kontrollib tetsimise tulemusi : · Süsteem ise (Self-testing, Self-checking) 75 · Väline seade-tester. (External testing) · Testitava riistvara projekteerimine 4) kombinatsioonskeemid 5) järjestikskeemid 6) Boundary-scan Standard IEEE 1149.1 · Veakindlad koodid 7) vigu avastavad koodid 8) vigu parandavad koodid · Töökindluse tõstmine 1) püüda ennustada riknemist 2) projekteerida nii, et oleks töökindel

Informaatika → Arvutid i
480 allalaadimist
Arvutid 1 eksam
74
pdf

Arvutid 1 eksam

Mida jälgitakse : · Kõiki väljundkombinatsioone · Funktsiooni väljundkombinatsioonidest (Compakt tetsing) Milistele objekti punktidele on ligipääs : · Ainult sisenditele/väljunditele. (Edge-pin testing) · Sisenditele/väljunditele lisaks ka sisemistele punktidele. (In-circuit tetsing, Bed-of-nails testing, ...) 73 Kes kontrollib tetsimise tulemusi : · Süsteem ise (Self-testing, Self-checking) · Väline seade-tester. (External testing) Testitava riistvara projekteerimine 1) kombinatsioonskeemid 2) järjestikskeemid 3) Boundary-scan Standard IEEE 1149.1 Veakindlad koodid 1) vigu avastavad koodid 2) vigu parandavad koodid Töökindluse tõstmine 1) püüda ennustada riknemist 2) projekteerida nii, et oleks töökindel 74

Informaatika → Arvutid i
590 allalaadimist
Exami materajal
50
doc

Exami materajal

Milline on testimise kiirus : · Normaalsest tööökiirusest aeglasemalt (Static testing) · Töökiirusel (At-speed testing) Mida jälgitakse : · Kõiki väljundkombinatsioone · Funktsiooni väljundkombinatsioonidest (Compakt tetsing) Milistele objekti punktidele on ligipääs : · Ainult sisenditele/väljunditele. (Edge-pin testing) · Sisenditele/väljunditele lisaks ka sisemistele punktidele. (In-circuit tetsing, Bed- of-nails testing, ...) Kes kontrollib tetsimise tulemusi : · Süsteem ise (Self-testing, Self-cheking) · Väline seade-tester. (External testing) objekt, test ja etalon testinfo esitus rikkemudelid. konstant 0 ja konstant 1 rike ( stuck-at-0 and stuck-at-1 faults, s-a-0 and s-a-1) lühised (Bridges) ühekordsed ja mitmekordsed rikked testide genereerimine (Test Pattern Generation) kattev testimine (Exhaustive Testing) juhuslik testimine (Random Testing)

Informaatika → Arvutid
221 allalaadimist


Sellel veebilehel kasutatakse küpsiseid. Kasutamist jätkates nõustute küpsiste ja veebilehe üldtingimustega Nõustun