"suuurenduste" - 1 õppematerjal

Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT

· Mahulised objektid lõigatakse õhukesteks lõikudeks ja seejärel vähendatakse paksust veelgi elektrokeemilise või ioonsöövitamisega. Elektronid suudavad tungida läbi  ainest paksusega umbes 100 nm.Pulbrilised materjalid dispergeeritakse süsinikust tugikile pinnal. 21. Millised on TEM lähedased tehnikad? · Röntgendifraktsiooon: mahulise objekti kristallograafiline informatsioon. · Optiline metallograafia: kiirem meetod väiksemate suuurenduste juures (kuni1000 x), mis annab ülevaate mikrostruktuurist. Ei anna keemilist informatsiooni. · SEM: kiirem meetod väiksemate suurenduste juures (kuni 20 000), mahuliste objektide uurimine, lahutusvõime kuni 50 nm mahulistel objektidel, kvalitatiivne keemiline informatsioon, piiratud kristalloraafiline informatsioon elektronide kanaleerumise abil. · EPMA: kiirem, täpsem (1% rel.) kvantitatiivne elementanalüüs alates B(5), halvem