Instrumentaalne viga peaks võrduma instrumendi juhendis toodud nominaalse väärtusega, millele lisanduvad justeerimise ebatäpsused ja teatud mõõtmistingimused.Komponendid: kollimatsiooniviga, pikksilma pöörlemistelje kalle, ümberfookuseerimise viga, limbi ja alidaadi ekstsentrilisusest tingitud viga, limbi jaotiste ebavõrdsusest tingitud viga,teodoliidi vertikaaltelje kalle.Reduktsiooniviga- on prisma tsentreerimine vaadeldavale puntkile nihkega. Tsentreerimis ja reduktsioonivea vähendamiseks kasutatakse kolme statiivi meetodit, mille puhul nimetatud vead lokaliseeritakse käigupunktidesse. Mõõtmised valguskaugusmõõturite abil-Leviaja mõõtmiseks kasutatakse kahte meetodit: Inferentsmeetod, kus mõõtühikuks on kindla monokromaatilise valguslaine pikkus, mida kasutatakse etalonkaugusmõõtureis.Modulatsioonimeetod, mis omakorda jaguneb kolmeks:faasimeetod, kus määratakse kiiratud ja peegeldunud moduleeritud võnkumiste faasivahe
Instrumentaalne viga peaks võrduma instrumendi juhendis toodud nominaalse väärtusega, millele lisanduvad justeerimise ebatäpsused ja teatud mõõtmistingimused.Komponendid: kollimatsiooniviga, pikksilma pöörlemistelje kalle, ümberfookuseerimise viga, limbi ja alidaadi ekstsentrilisusest tingitud viga, limbi jaotiste ebavõrdsusest tingitud viga,teodoliidi vertikaaltelje kalle.Reduktsiooniviga- on prisma tsentreerimine vaadeldavale puntkile nihkega. Tsentreerimis ja reduktsioonivea vähendamiseks kasutatakse kolme statiivi meetodit, mille puhul nimetatud vead lokaliseeritakse käigupunktidesse. Mõõtmised valguskaugusmõõturite abil-Leviaja mõõtmiseks kasutatakse kahte meetodit: Inferentsmeetod, kus mõõtühikuks on kindla monokromaatilise valguslaine pikkus, mida kasutatakse etalonkaugusmõõtureis.Modulatsioonimeetod, mis omakorda jaguneb kolmeks:faasimeetod, kus määratakse kiiratud ja peegeldunud moduleeritud võnkumiste faasivahe
annaabi.ee 
