"polarisatsioonitasanditega" - 1 õppematerjal

Polümeeride amorfse faasi eksperimentaalne kirjeldus

materjali lõikeid (tavaliselt 1 ­ 5 m), kuna valgusmikroskoobi sügavusteravus on väike. PLM võimaldab hinnata superstruktuuride kuju, arvu, ringide või Malta risti esinemist ja defekte. Teine oluline ja suhteliselt lihtne superstruktuuride morfoloogia uurimise meetod on väikenurkvalgushajumine (SALS ­ Small-Angle (Laser) Light Scattering). Sarnaselt PLM-ga vaadeldakse õhukest polümeeri lõiget (10 ­ 50 m) mis paikneb ristatud polarisatsioonitasanditega polarisaatori ja analüsaatori vahel. Erinevalt valgusmikroskoopiast kasutatakse selle meetodi puhul monokromaatilist laserkiirgust, mis kitsa kimbuna läbi proovi suunatakse. Proovi taha kaugusele l on paigutatud ekraan, millel polariseeritud ja proovis hajunud laserkiirgus tekitab spetsiifilise kujundi. Kui proov sisaldab sümmeetrilisi superstruktuure, nagu sferoliidid, tekib ekraanile nelja sümmeetriliselt paigutunud ovaaliga kujutis