valguse maksimume erinevates suundades. Seda võre omadust kasutatakse spektrite saamiseks spektraalaparaatides. Difraktsioon mere ääres Sadamakai varju või suure kivilahmaka taha lained ei levi. Väiksemate kivide taga lained koonduvad veidi, veel väiksemate taga aga koonduvad juba tugevasti. Tõkked peavad olema samas suurusjärgus võngete lainepikkusega, et difraktsioon saaks tekkida. Difraktsiooni kasutamine pinnauuringutes Kasutatakse erinevate pinnastruktuuride analüüsiks. Röntgenkiirguse difraktsioon Kihtide paksust määratakse röntgendifraktsiooni abil. Faase eristatakse difraktsiooni abil. Faas on tsüklilise võnkeprotsessi hetkeseisund.
näiteks Päikese või Kuu. Kõik need nähtused on põhjustatud valguse lainelistest omadustest. Rääkides veeslainetest võiks näiteks tuua kuidas sadamakai varju või suure kivilahmaka taha lained ei levi. Väiksemate kivide taga lained koonduvad veidi, veel väiksemate taga aga koonduvad juba tugevasti. Tõkked peavad olema samas suurusjärgus võngete lainepikkusega, et difraktsioon saaks tekkida. Veel kasutatakse difraktsiooni röntgenkiirguse korral ning ka pinnauuringutes erinevate pinnastruktuuride analüüsiks. Interferetsi abil on aga materjalidele võimalik sadestada õhukene kile, mis võimendab või vähendab peegeldusi. Selleks kaetakse optilise klaasi pind õhukese kelmekihiga, mille murdumisnäitaja on klaasi omast väiksem. Kelme paksus valitakse nii, et tema pindadelt peegeldunud lained oleks vastandfaasis. Peegeldust võimendades saab valmistada peegleid ning optilisi filtreid, mis osasid lainepikkusi lasevad läbi, aga teisi peegeldavad
Erineva lainepikkusega valguslained annavad valguse maksimume erinevates suundades. Seda võre omadust kasutatakse spektrite saamiseks spektraalaparaatides. Difraktsioon mere ääres Sadamakai varju või suure kivilahmaka taha lained ei levi. Väiksemate kivide taga lained koonduvad veidi, veel väiksemate taga aga koonduvad juba tugevasti. Tõkked peavad olema samas suurusjärgus võngete lainepikkusega, et difraktsioon saaks tekkida. Difraktsiooni kasutamine pinnauuringutes Kasutatakse erinevate pinnastruktuuride analüüsiks. Röntgenkiirguse difraktsioon Kihtide paksust määratakse röntgendifraktsiooni abil. Faase eristatakse difraktsiooni abil. Faas on tsüklilise võnkeprotsessi hetkeseisund. Difraktsioon tähendab lainete kõrvalekaldumist esialgsest sirgjoonelisest teest ja paindumist tõkete taha. Mida suurem on lainepikkus, seda suurem ka paindumine.
annaabi.ee 
