Kuidas saadakse testid/oodatavad reakstsioonid: *Mälust. (Stored pattern tetsing)*Genereeritakse testimise ajal. (Algorithmik testing). Millises järjekorras antakse teste objektile: *Fikseeritud jäjekorras. *Sõltuvalt eelmise testi tulemustest (Adaptive testing). Milline on testimise kiirus: *Normaalsest tööökiirusest aeglasemalt (Static testing)*Töökiirusel (At-speed testing). Mida jälgitakse: *Kõiki väljundkombinatsioone *Funktsiooni väljundkombinatsioonidest (Compakt tetsing). Milistele objekti punktidele on ligipääs: *Ainult sisenditele/väljunditele. (Edge-pin testing)*Sisenditele/väljunditele lisaks ka sisemistele punktidele. (In-circuit tetsing, Bed- of-nails testing, ...) Kes kontrollib tetsimise tulemusi: *Süsteem ise (Self-testing, Self-cheking)*Väline seade- tester. (External testing).objekt, test ja etalon.testinfo esitus.rikkemudelid. konstant 0 ja konstant 1 rike ( stuck-at-0 and stuck-at-1 faults, s-a-0 and s-a-1), lühised
(Algorithmik testing) Millises järjekorras antakse teste objektile : · Fikseeritud jäjekorras. · Sõltuvalt eelmise testi tulemustest (Adaptive testing) Milline on testimise kiirus : · Normaalsest tööökiirusest aeglasemalt (Static testing) · Töökiirusel (At-speed testing) Mida jälgitakse : · Kõiki väljundkombinatsioone · Funktsiooni väljundkombinatsioonidest (Compakt tetsing) Milistele objekti punktidele on ligipääs : · Ainult sisenditele/väljunditele. (Edge-pin testing) · Sisenditele/väljunditele lisaks ka sisemistele punktidele. (In-circuit tetsing, Bed-of-nails testing, ...) Kes kontrollib tetsimise tulemusi : · Süsteem ise (Self-testing, Self-checking) 75 · Väline seade-tester. (External testing) · Testitava riistvara projekteerimine
(Algorithmik testing) Millises järjekorras antakse teste objektile : · Fikseeritud jäjekorras. · Sõltuvalt eelmise testi tulemustest (Adaptive testing) Milline on testimise kiirus : · Normaalsest tööökiirusest aeglasemalt (Static testing) · Töökiirusel (At-speed testing) Mida jälgitakse : · Kõiki väljundkombinatsioone · Funktsiooni väljundkombinatsioonidest (Compakt tetsing) Milistele objekti punktidele on ligipääs : · Ainult sisenditele/väljunditele. (Edge-pin testing) · Sisenditele/väljunditele lisaks ka sisemistele punktidele. (In-circuit tetsing, Bed-of-nails testing, ...) 73 Kes kontrollib tetsimise tulemusi : · Süsteem ise (Self-testing, Self-checking) · Väline seade-tester. (External testing) Testitava riistvara projekteerimine 1) kombinatsioonskeemid
· Mälust. (Stored pattern tetsing) · Genereeritakse testimise ajal. (Algorithmik testing) Millises järjekorras antakse teste objektile : · Fikseeritud jäjekorras. · Sõltuvalt eelmise testi tulemustest (Adaptive testing) Milline on testimise kiirus : · Normaalsest tööökiirusest aeglasemalt (Static testing) · Töökiirusel (At-speed testing) Mida jälgitakse : · Kõiki väljundkombinatsioone · Funktsiooni väljundkombinatsioonidest (Compakt tetsing) Milistele objekti punktidele on ligipääs : · Ainult sisenditele/väljunditele. (Edge-pin testing) · Sisenditele/väljunditele lisaks ka sisemistele punktidele. (In-circuit tetsing, Bed- of-nails testing, ...) Kes kontrollib tetsimise tulemusi : · Süsteem ise (Self-testing, Self-cheking) · Väline seade-tester. (External testing) objekt, test ja etalon testinfo esitus rikkemudelid. konstant 0 ja konstant 1 rike ( stuck-at-0 and stuck-at-1 faults, s-a-0 and s-a-1)
annaabi.ee 
