10. Millised on optilise metallograafia lähedased meetodid? · SEM võimaldab paremat lahutusvõimet (suuremad suurendused), suuremat sügavusteravust (ebatasasem pind), elementide kvalitatiivset mikroanalüüsi. · EPMA võimaldab elementide kvalitatiivset ja kvantitatiivset mikroanalüüsi. · TEM võimaldab palju paremat lahutusvõimet (suuremad suurendused), nõuab spetsiaalst ettevalmistatud proovi, elementide poolkvantitatiivset mikroanalüüsi, mikroalade kristallograafilist informatsiooni. 11. Millised on optilise metallograafia piirangud? · Lahutusvõime piir on umbes 1µm. · Väike sügavusteravus ei võimalda uurida ebatasast pinda. · Ei anna mikroskoopiliste alade otsest keemilist või kristallograafilist koostist. 12. Milliseid objekte saab uurida optilise metallograafia abil? · Metall, keraamika komposiidid, geoloogilised materjalid. · Mõõtmed 10-5 kuni 10-1 m.
laine kui ka osakese omadused. 60. Mis vahe on karakteristlikul ja pideval röntgenkiirgusel? Karakteristikul röntgenkiirgusel on energia diskreetsed väärtused erinevad iga elemendi jaoks, samas kui pideva röntgenkiirguse korral on energia pidev. Karakteristiliku allikaks on aatomis elektrokatete vahelised üleminekud ning pideva korral on allikaks elektroni pidurdumine. Pideval röntgenkiirgusel puudub kasutusala, karakteristiliku kasutusalaks on aga mikroalade keemiline analüüs SEM, STEM, SAM. 61. Mis vahe on reaalsetel ja ideaalsetel kristallidel? Ideaalsete kristallide korral puuduvad kristallil defektid, kuid selliseid esineb väga harva. Reaalsetel kristallidel aga esinevad tavaliselt mingisugused defektid, nt võre deformatsioonid, dislokatsioonid, kasvu seiskumine, alamterade struktuur, lisandid 62. Mille järgi määratakse kristalli suurust difraktomeetrias? Seda määratakse spektrijoone laienemise järgi, kui objektiks on pulber
annaabi.ee 
