lained ei levi. Väiksemate kivide taga lained koonduvad veidi, veel väiksemate taga aga koonduvad juba tugevasti. Tõkked peavad olema samas suurusjärgus võngete lainepikkusega, et difraktsioon saaks tekkida. Veel kasutatakse difraktsiooni röntgenkiirguse korral ning ka pinnauuringutes erinevate pinnastruktuuride analüüsiks. Interferetsi abil on aga materjalidele võimalik sadestada õhukene kile, mis võimendab või vähendab peegeldusi. Selleks kaetakse optilise klaasi pind õhukese kelmekihiga, mille murdumisnäitaja on klaasi omast väiksem. Kelme paksus valitakse nii, et tema pindadelt peegeldunud lained oleks vastandfaasis. Peegeldust võimendades saab valmistada peegleid ning optilisi filtreid, mis osasid lainepikkusi lasevad läbi, aga teisi peegeldavad. Valge valguse värvilist interferentsipilti saab kasutada valmistamaks rahatähtede turvaelementide, mille värvus sõltub vaatlemisnurgast. Prilliklaasidele kantakse peegeldumisvastane pinnakate (AR
3)Vastandfaasis olevad lained nõrgendavad või kustutavad üksteist liitumisel Valguse interferents on konkreetsete lainete liitumise tulemus vahelduvate maksimum- ja miinimumjoonte või triipude pildina, mis ajas ja ruumis ei muutu. NB! Igasugune lainete liitumine ei ole veel interferents. Interfernetsi ja difraktsiooni rakendusi: 1.Optika selgendamine-soovimatu peegeldumise kõrvaldamine optiliste klaaside pinnalt. Optilise klaasi pind kaetakse õhukese kelmekihiga,mille murdumisnäitaja on klaasi omast väiksem.Kelme paksus valitakse nii,et tema pindadelt peegeldunud lained oleks vastandfaasides. 2.Newtoni rõngad- kasutatakse läätse kvaliteedi kontrollimisel. 3.Difraktsioonivõre-kasutatakse valguse lainepikkuse määramiseks. 4.Holograafia-esemete ruumilise kujutise fotografeerimine.Hologrammil on jäädvustatud eseme ruumiline kolmemõõtmeline kujutis. 11. Elektromagnetlainete skaala: 1)Madalsageduslained 2)raadiolained 3) infravalgus