lektronid lahkuvad sisekihtidest ja mõni kõrgema kihi elektron langeb vakantsele kohale siseringis ning vabanev abanev energia eraldub kiirgusena. kiirgusena Röntgenfluorestsents spektroskoopia: · on elementanalüüs lementanalüüs · sobib obib kvalitatiivseks analüüsiks - erinevatel elementidel on erinevate energiatega emissioonijooned · Fluorestsentskiirguse intensiivsus on proportsionaalne kiirgava elemendi aatomite hulgaga proovis kvantitatiivseks analüüsiks üsiks sobib siiski sobivate standardite olemasolul. olemasolul 5 Kromatograafia Ainete segu üksikkomponentideks lahutamise meetod, ainete segude analüüsi meetod ning meetod orgaaniliste ainete analüüsiks keskkonnaproovides. Komponentide eraldamine segust põhineb nende
Ehk XRF elemendi aatomeid määratakse registreerides neile iseloomulikku röntgenkiirgust. Röntgenkiirguse neeldumisel tekivad ergastatud ioonid, elektronid lahkuvad sisekihtidest, ioonid siirduvad põhiolekusse nii, et mõni kõrgema kihi elektron langeb sisekihile. Vabaneb energia eraldub röntgenkiirguse kvandina (fluorestents). Tegemist on elementanalüüsiga, elemendid Na .. U. Sobib kvalitatiivseks analüüsiks, kuna elementidel on iseloomulikud emissioonijooned. Fluorestsentskiirguse intensiivsus on proportsionaalne kiirgava elemendi aatomite hulgaga proovis, seega sobib ka kvantitatiivseks analüüsiks sobivate standardite korral (maatriksid peavad olema vastavuses). Röntgenkiirguse neeldumisel tekivad ergastatud ioonid. Elektronid lahkuvad sisekihtidest (põhiliselt K ja ka L kiht). Need ioonid siirduvad põhiolekusse sel teel, et mõni kõrgema kihi elektron langeb vakantsele kohale sisekihis. Vabanev energia eraldub röntgenkiirguse kvandina: fluorestsents
annaabi.ee 
