"dielekriku" - 1 õppematerjal

Optilised omadused ja optilised materjalid

2 C x Sageli eemaldatakse faasimodulatsiooniga fotoelastsuseksperimentides 3 pingeid põhjustavad servad, sel juhul võib lugeda 3 nulliga võrdseks. KÜSIMUS: 14) Selgita faasimodulatsiooni meetodi tööpõhimõtet? Miks seda meetodit kasutatakse? 35 5 VALGUSE PEEGELDUMINE. RAKENDUSED. 5.1 Rakendus: ellipsomeetriline murdumisnäitaja mõõtmine Fresneli valemid dielekriku piirpinnalt peegeldunud valguse intensiivuse arvutamiseks: sin 2 ( - ) tan 2 ( - ) = sin 2 (1 +2 ), = tan 2 (1 +2 ), kus ja on intensiivsused vastavalt langemistasandiga risti 1 2 1 2 ja lagnemistasandiga paralleelselt lineaarselt polariseeritudpealelangeva valguse jaoks. 5.2 Rakendus: ellipsomeetriline murdumisnäitaja mõõtmine Ellipsomeetria on optiline meetod materjalide ja õhukeste kilede iseloomustamiseks