Materjaliuurimise KORDAMISKÜSIMUSED 2.KT
pinnale vastasmärgiline laeng.
78. Mida nimetatakse aatomlahutuseks?
Võimet eristada üksikuid aatomeid.
79. Millest valmistatakse AFM teravikud?
Mikromehhaaniliselt Si või Si3N4.
80. Milline on SPM vertikaalne lahutusvõime? 0,01nm
81. Milline on teravikmikroskoobi vertikaalne lahutusvõime?
0,01 nm (sama mis STM, sest STM on teravikmikroskoobi üks meetodeid)
82. Millised on nõuded STM objektidele?
Saab uurida ainult elektrit juhtivaid objekte.
83. Mis on aatomlahutus?
Võimet eristada üksikuid aatomeid.
84. Mis on teravikmikroskoop?
Teravikmikroskoop võimaldab jälgida materjali pinnal üksikute aatomite paiknemist ja uurida
füüsikalisi ja keemilisi omadusi, mis sõltuvad pinnal asuvate elektronide käitumisest tegelikus
ruumis.
85. Mis on tunnelefekt?
Tunnelefekt põhineb osakeste lainelaadsetele omadustele, mida selgitas alles kvantmehaanika.
Tavapärane STM põhineb elektrivoolu tugevuse mõõtmisel elektronide tunnelleerumisel läbi