Elektriajamite elektroonsed susteemid
1996. aastal väga madala avatud oleku takistusega (neelu ja lätte vahelise takistusega), kuid
madalate pingetega (UDS max < 100 V, RDS < 6 m, UDS = 30 V) transistoride tootmist. CoolMOS-
transistoride kasutuselevõtmine aastal 1998 võimaldas veelgi vähendada avatud oleku takistust
RDS, võrreldes tavalise MOSFET-transistoriga ligikaudu 5...6 korda. Samuti suurenesid ka
transistoride pinged UR = 0,6...1 kV. Vertikaalsete p-juhtivusega ribade kasutamine siirde
triivipiirkonnas võimaldas laiendada ka ruumilaengu piirkonda horisontaalsuunas, mille
tulemusena vähenes transistoride paksus ja seega vähenesid juhtivus-ja lülituskaod ning
69
IF1
I
VD1
IF
IF
VD2