Exami materajal
Mida jälgitakse :
· Kõiki väljundkombinatsioone
· Funktsiooni väljundkombinatsioonidest (Compakt tetsing)
Milistele objekti punktidele on ligipääs :
· Ainult sisenditele/väljunditele. (Edge-pin testing)
· Sisenditele/väljunditele lisaks ka sisemistele punktidele. (In-circuit tetsing, Bed-
of-nails testing, ...)
Kes kontrollib tetsimise tulemusi :
· Süsteem ise (Self-testing, Self-cheking)
· Väline seade-tester. (External testing)
objekt, test ja etalon
testinfo esitus
rikkemudelid.
konstant 0 ja konstant 1 rike ( stuck-at-0 and stuck-at-1 faults, s-a-0 and s-a-1)
lühised (Bridges)
ühekordsed ja mitmekordsed rikked
testide genereerimine (Test Pattern Generation)
kattev testimine (Exhaustive Testing)
juhuslik testimine (Random Testing)
pseude juhuslik testimine (Pseudo Random Testing)
testide genereerimine determineeritud meetodil
· Testitava riistvara projekteerimine
· kombinatsioonskeemid
annaabi.ee 
