on teisendatav kujule (2/x2) + {2m (E U) / 2} = 0, mis juhul U = 0 (potentsiaaliaugu sees) kirjeldab seisulainet lainearvuga k = (2mE) 1/2/ . Barjääri alas (seal, kus osakese energia E on väiksem barjääri ületamiseks vajalikust potentsiaalsest energiast U), on suurus {2m (E U) / 2} negatiivne ja võrrand kirjeldab osakese leiulaine amplituudi kahanemist neeldumisteguriga = {2m (U E)}1/2/ seaduse A = A0 e- x järgi (analoogiliselt valguse neeldumisseadusega, x - kaugus barjääri servast). Tunnelefektiks nimetatakse mikroosakese läbiminekut potentsiaalibarjäärist. Potentsiaalibarjäär on makro- keha jaoks läbimatu sein, milles toimub osakese leiulaine amplituudi A eksponentsiaalne kahanemine. Kui sein on piisavalt õhuke, siis võib laine amplituud seinas mitte langeda nullini. See aga tähendab, et laine läheb mingi tõenäosusega seinast läbi.
on teisendatav kujule (2/x2) + {2m (E U) / 2} = 0, mis juhul U = 0 (potentsiaaliaugu sees) kirjeldab seisulainet lainearvuga k = (2mE) 1/2/ . Barjääri alas (seal, kus osakese energia E on väiksem barjääri ületamiseks vajalikust potentsiaalsest energiast U), on suurus {2m (E U) / 2} negatiivne ja võrrand kirjeldab osakese leiulaine amplituudi kahanemist neeldumisteguriga = {2m (U E)}1/2/ seaduse A = A0 e- x järgi (analoogiliselt valguse neeldumisseadusega, x - kaugus barjääri servast). Elektronmikroskoop on seade esemest kujutise saamiseks elektronilainete abil, mille lainepikkust saab kiirenduspinge U tõstmise teel vähendada, sest = h /(2meU)1/2. Relativistlikult = hc /(E Er)1/2. Rastermikroskoobis teravustatakse elektronkiir objekti pinnale mikrotäpiks ja seda täppi nihutatakse rida- realt üle uuritava pinna. Sellist protseduuri nimetatakse skaneerimiseks. Kujutise saamine toimub
on teisendatav kujule (2/x2) + {2m (E U) / 2} = 0, mis juhul U = 0 (potentsiaaliaugu sees) kirjeldab seisulainet lainearvuga k = (2mE) 1/2/ . Barjääri alas (seal, kus osakese energia E on väiksem barjääri ületamiseks vajalikust potentsiaalsest energiast U), on suurus {2m (E U) / 2} negatiivne ja võrrand kirjeldab osakese leiulaine amplituudi kahanemist neeldumisteguriga = {2m (U E)}1/2/ seaduse A = A0 e- x järgi (analoogiliselt valguse neeldumisseadusega, x - kaugus barjääri servast). Elektronmikroskoop on seade esemest kujutise saamiseks elektronilainete abil, mille lainepikkust saab kiirenduspinge U tõstmise teel vähendada, sest = h /(2meU)1/2. Relativistlikult = hc /(E Er)1/2. Rastermikroskoobis teravustatakse elektronkiir objekti pinnale mikrotäpiks ja seda täppi nihutatakse rida- realt üle uuritava pinna. Sellist protseduuri nimetatakse skaneerimiseks. Kujutise saamine toimub
annaabi.ee 
