Mälude veakontroll on kasutusel kriitilistes kontrollerites või serverarvutites. Veakontroll võib olla realiseeritud kas paarsuskontrolliga, kus teatud arvu bittide kohta arvutatakse kontrollsumma ning andmete mälust lugemisel kontrollitakse, kas summa on sama. Sellise lahenduse korral on võimalik avastada 1-bitiseid mäluvigu. Teine mälukiipides tuntud veakontrollimeetod on ECC (Error detection and correction). Selle kontrollimeetodi puhul on iga mälumoodulil eraldi kontrollbitt ja selle kontrollimehhanism ka mälukontrollerile sisse ehitatud. ECC mälude korral on võimalik korrigeerida 1-bitiseid mäluvigu ja avastada 2-bitiseid mäluvigu. 1.2 Arvuti arhitektuur Õpieesmärgid Selle alateema materjale läbi töötades õpid: Määratlema diagrammi abil üldotstarbelise arvuti arhitektuur Kirjeldamatugikiibistiku mõistet ja erinevate siinitüüpide otstarvet arvutisüsteemis
kõvasulam) mise erinevusel kontrollitavas kehas ja see fiksee- ritakse röntgenfilmil. Radiograafiameetodeid kasuta- takse peamiselt keevisõmbluste kontrollimisel. - 12 - defektile (tabel 1.7). Peale õige kontrollimeetodi Ultrahelikatse valikut tuleb tema kvantitatiivseks hindamiseks leida Ultrahelimeetod põhineb 2...4 MHz sagedusega seos mõõteriista näidu ja toote kvaliteedi ning ultraheli kasutusel (ultraheliks loetakse akustilisi töökindluse vahel. mitteelektromagnetilisi laineid sagedusega üle 20 kHz). Erinevalt röntgeni- ja gammakiirgusest, mis Tabel 1.6. Mittepurustavate kontrollimeetodite
annaabi.ee 
