Kordamisküsimused õppeaines "Mõõtmised ja andmetöötlus"
parameetriliste
suuruste (elektritakistus, -mahtuvus või induktiivsus) muutusega. Andurite
ja füüsikaliste suuruste klassifitseerimisel aktiivseteks ja passiivseteks näeme,
et
aktiivsete suuruste mõõtmiseks kasutatakse passiivseid andureid ning
passiivsete
suuruste mõõtmiseks aktiivseid andureid.
3. Mõõteseadme mõõtevigade klassifikatsioon
Metoodilised ja riistavead. Riistavead tekivad mõõteseadme või selle osade
ebapiisava
kvaliteedi tõttu. Näiteks indikatsiooniseadme osuti laagrites tekib
hõõrdetakistuse
tõttu lisajõud, mis mõjutab osuti asendit.
Vastastikuse mõju vead. Seda liiki vead tekivad mõõteseadme, mõõteobjekti
ja
eksperimentaatori vastastikusest mõjust mõõtmiste käigus. Näiteks pinge
mõõtmisel
voltmeetri abil peab voltmeetri sisetakistus olema väga suur võrreldes
mõõdetava
ahela takistusega.
Põhi- ja lisavead. Iga mõõteseade töötab keerulistes, ajas muutuvates
tingimustes
annaabi.ee 
