4 1. elektrivälja tugevus 2. elektromotoorjõud 3. pooljuhtventiil ehk diood 4. elektrolüüsi kasutamine tehnikas 5. valguse difraktsioon 1. elektrivälja tugevus on arvuliselt võrdne jõuga, mis mõjuba antud väljapunktis asuvale ühikulisele punktlaengule. Punktlaengu väljatugevus on võrdeline laengu suurusega ning pöördvõrdeline laengu ja antud väljapunkti vahelise kauguse ruuduga. Vektor on suunatud piki laengut ja antud väljapunkti läbivat sirget + laengust eemale ja laengu poole. Laengute süsteemi väljatugevus on võrdne nende väljatugevuste vektorsummaga, mida tekitavad kõik süsteemi kuuluvad laengud üksikult. 2. suurust, mis on võrdne positiivse ühiklaengu ümberpaigutamiseks tuleva kõrvaljõudude tööga nimetatatkse emj. E=A/q (V) 3. Pooljuhtventiiliks on pooljuhtkristall, kus on loodud auk-ja elektronjuhtivuseg...
tõkke mõõtmetest, siis difraktsioon on nõrk. Kõiki valguslaine frondi punkte võib vaadelda uute valgusallikatena, millest kiirgunud lainete interfereerumise tulemusena määratakse lainefrondi iga uus asend. Lainefrondi punktidest väljunud laineid nim. sekundaarlaineteks. Paarisarvu lainefrondi tsoonide korral tekib difraktsiooni miinimum. Paaritu arvu puhul jäävad ühe tsooni piires tulevad lained kustutamata ja tekib difr maksimum 5 1. senjettelektrikud ja piesoelektriline efekt 2. ohmi seadused 3. elektrolüüsi kasutamine tehnikas 4. elektromagnetiline induktsioon 5. valguse prameetrid 1. Senjettelektrikud on eri liiki dielektrikud, mille polarisatsioon võib tekkida iseeneslikult, välise elektrivälja mõjuta. Senjettelektriku omadused võivad tekkida ainult kristallilistel ainetel. Kui tavalistel
Lainega kandub edasi ak energia. roo Interferentsiks nim koherenteste lainete liitmist. Koherentseks nim ühesuguse sagedusega laineid, millede faaside vahe ei muutu aja jooksul. Difraktsiooniks nim laine paindumist oma teel seisva tõkke taha.19.Lainete interferents ja difraktsioon Interferents kahe v mitme laine liitmine ,mille puhul tekib ruumi erinevates punktides ajas püsiv resultantvõnkumiste amplituudi jaotus. Difr lainete paindumine tõkete taha.Kui lamda >avast,siis difr on suurem.kui>,siis väiksem. 20.Akustika käsitleb häält ja tema seost teiste füüsikaliste nähtustega. W/m 2(1000Hz) Valulävi 10W/m2 (130dB).-20Hz on infralained;20- kHz on ultraheli.Heli isel kõrgus,tämber ja valjus. Gaasides ja vedelikes levib heli pikilainetel ja tahketes nii piki kui ristil.Helid jaot:lihthelid e toonid ;liithelid(madal sagedus+täisarv korda kõrgemad sagedused);mürad(ei ole kordsed)
vastassuunaliste jõududega. F=-F S2;.Difraksiooniks nimetatakse laine paindumist oma 6.Impulsi jäävuse seadus:Vektorist suurust b=mv Wan der Waalsi võrrand: nimetatakse ainepunkti impulsiks. Seadus:Ainepunktide teel seisva tõkke taha.Kui >ava ,siis difr ,kui<< . isoleeritud süsteemi kogu impulss on jääv. 21.Akustika:Akustika käsitleb elastsuslaineid,millised asuvad sageduste vahemikus 10Hz kuni 20kHz.Akustika 36.Termodünaamilised protsessid gaasides: mivi=const käsitleb häält ning tema seost teiste füüsikaliste 7.Töö ja võimsus: Töö on jõu ja nihkevektorite korrutis
Juhul kui lainepikkus on märgatavalt väiksem tõkke mõõtmetest, siis difraktsioon on nõrk. Kõiki valguslaine frondi punkte võib vaadelda uute valgusallikatena, millest kiirgunud lainete interfereerumise tulemusena määratakse lainefrondi iga uus asend. Lainefrondi punktidest väljunud laineid nim. sekundaarlaineteks. Paarisarvu lainefrondi tsoonide korral tekib difraktsiooni miinimum. Paaritu arvu puhul jäävad ühe tsooni piires tulevad lained kustutamata ja tekib difr maksimum 1. elektriväli dielektrikutes 2. kondensaator 3. biot-savarti-laplace seadus 4. elektromagnetiline induktsioon 5. valguse interferents 1. Aatom on mittepolaarne-ei oma pooluseid. Kui aga aatomitest moodustub molekul, siis ei pruugi erimärgiliste laengute raskuskeskmed kokku langeda. Selliseid molekule nimetatakse polaarseteks. Kui poolusi on kaks nimetatakse laengusüsteemi dipooliks. Dielektrik on aine, milles vabade laengute hulk normaaltingimustel on väga väike. 2
Üldiselt tahketele kehadele rõhu muutus ei mõju, küll aga temp: a)muutub elektrijuhtivus b)osakeste vaheliste sidemete tugevus. 16. Tahkete ainete röntgenfaasianalüüsi printsiip, saadav info ja analüsaatori skeem. Röntgenfaasianalüüs aine struktuuri analüüs, mis põhineb röntgenkiirguse difraktsioonil. Difusiooni pilt jäädvustatakse. Pildil olevate difraktsioonide maksimumide asukoha järgi identifits. kristalli ühikraku mõõtmed ja difr-nud kiirguse intensiivsuse jaotust analüüsides, sellel paiknevate aatomite koordinaadid. Fourieri meetod annab ühikrakus olevate aatomite elektronide tiheduse jaotuse, mille max ühtivad aatomite paigutusega. RFanalüüsi kasut ainete eksisteerimisvormi kindlaks tegemisel (kristalne, amorfne, nende segu). Iga aine omab ainult talle iseloomulikku ,,d" väärtust ja reflekside intensiivsuste omavahelist suhet, mille saabki antud uuringul difraktogrammil välja lugeda
annaabi.ee 
